日本理學(xué) x熒光光譜儀檢測熒光光譜儀 臺式x熒光光譜儀熒光光譜儀
日本理學(xué) x熒光光譜儀檢測熒光光譜儀 臺式x熒光光譜儀熒光光譜儀
日本理學(xué) x熒光光譜儀檢測熒光光譜儀 臺式x熒光光譜儀熒光光譜儀
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日本理學(xué)-x熒光光譜儀檢測熒光光譜儀-臺式x熒光光譜儀熒光光譜儀

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品牌 日本理學(xué)
產(chǎn)品 日本
報(bào)價(jià)方式 按實(shí)際訂單報(bào)價(jià)為準(zhǔn)
儀器名 波長色散x射線熒光光譜儀
產(chǎn)品編號 9166620
商品介紹
廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營:直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

不同元素的熒光x射線具有各自的特定波長或能量,因此根據(jù)熒光x射線的波長或能量可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀,對于一定晶面間距的晶體,由檢測器轉(zhuǎn)動(dòng)的2e角可以求出x射線的波長入,從而確定元素成份。對于能量色散型光譜儀,可以由通道來判別能量,從而確定是何種元素及成份。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干擾時(shí),仍需人工鑒別。首先識別出管靶材的特征x射線和強(qiáng)峰的伴隨線,然后根據(jù)能量標(biāo)注剩余譜線。在分析未知譜線時(shí),要同時(shí)考慮到樣品的來源、性質(zhì)等元素,以便綜合判斷。

3、X熒光光譜儀定量分析

X射線熒光光譜法進(jìn)行定量分析的根據(jù)是元素的熒光X射線強(qiáng)度Ii與試樣中該元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is為Ci=100%時(shí),該元素的熒光X射線的強(qiáng)度。根據(jù)上式,可以采用標(biāo)準(zhǔn)曲線法、增量法、內(nèi)標(biāo)法等進(jìn)行定量分析。但是這些方法都要使標(biāo)準(zhǔn)樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似,否則試樣的基體效應(yīng)是指樣品的基本化學(xué)組成和物理化學(xué)狀態(tài)的變化對X射線熒光強(qiáng)度所造成的影響?;瘜W(xué)組成的變化,會(huì)影響樣品對一次X射線和X射線熒光的吸收,也會(huì)改變熒光增應(yīng)。例如,在測定不銹鋼中Fe和Ni等元素時(shí),由于一次X射線的激發(fā)會(huì)產(chǎn)生Nika熒光X射線,Nika在樣品中可能被Fe吸收,使Fe激發(fā)產(chǎn)生Feka。測定Ni時(shí),因?yàn)镕e的吸收效應(yīng)使結(jié)果偏低,測定Fe時(shí),由于熒光增應(yīng)使結(jié)果偏高。





廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司(原廣州市儀德科學(xué)儀器有限公司)創(chuàng)立于2005年,十三年來堅(jiān)持服務(wù)于國內(nèi)實(shí)驗(yàn)分析領(lǐng)域,專注于各類儀器的研究制造與營銷服務(wù),是一家專門為客戶打造一站式、全鏈條和“交鑰匙”實(shí)驗(yàn)室而組建的高新技術(shù)企業(yè)。






電感耦合等離子體發(fā)射光譜法應(yīng)用于環(huán)境水樣、土壤樣品中的微量元素進(jìn)行分析,在元素分析測試中的應(yīng)用技術(shù)具有簡便、快速、分析速度快;檢出限低,多數(shù)可達(dá)0.005μg/ml以下;測量動(dòng)態(tài)線性范圍寬,一般可達(dá)5~6個(gè)數(shù)量級,可同時(shí)進(jìn)行高含量元素和低含量元素的分析,可達(dá)到石墨爐原子吸收光譜儀的部分檢出水平;可多種元素同時(shí)分析,可定性、定量分析金屬元素,也可分析部分非金屬元素,提高了分析效率,基體效應(yīng)小,低背景干擾、高信噪比、精密度高、準(zhǔn)確性好等優(yōu)點(diǎn)。



 產(chǎn)品資源豐富,種類齊全,涵蓋實(shí)驗(yàn)室通用儀器、化學(xué)分析、表面科學(xué)等,如全譜直讀光譜儀、波長\能量色散型X射線熒光光譜儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、輝光放電光譜儀、紫外可見分光光譜儀、分子熒光光譜儀、原子吸收光譜儀、掃描電鏡、原子力顯微鏡、金相顯微鏡、氧氮?dú)浞治鰞x、碳硫分析儀等。





Features

石油和的超低硫分析

0.3 ppm檢測低限(LLD)

無需He(g)凈化

簡易使用臺式分析儀

遵照ASTM D2622-10

遵照ISO 20884

遵照J(rèn)IS K2541-7


擁有一個(gè)新的特征,可以同時(shí)測定硫的峰強(qiáng)和背景強(qiáng)度。測定并校正背景強(qiáng)度變化的能力使獲得一個(gè)更好的凈峰強(qiáng)度測定,從而獲得優(yōu)越的校正以及提高精度。理學(xué)Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。


理學(xué)ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量測定,從氧(O)到鈾(U)的標(biāo)準(zhǔn)的廣泛樣品類型。

高度可靠性的上照射式光學(xué)系統(tǒng)

ZSX Primus III+具有場新的上照射式光學(xué)配置。用戶再也不用擔(dān)心由于維護(hù)樣品室導(dǎo)致的路徑污染或停止時(shí)間。上照射式幾何結(jié)構(gòu)消除了清掃的擔(dān)心并增加了時(shí)間。





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