廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學(xué)光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

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直讀光譜儀--發(fā)射光譜儀

管他叫直讀的原因是相對于攝譜儀和早期的發(fā)射光譜儀而言，由于在70年代以前還沒有計算機(jī)采用，所有的光電轉(zhuǎn)換出來的電流信號都用數(shù)碼管讀數(shù)，然后在對數(shù)轉(zhuǎn)換紙上繪出曲線并求出含量值，計算機(jī)技術(shù)在光譜儀應(yīng)用后，所有的數(shù)據(jù)處理全部由計算機(jī)完成，可以直接換算出含量，所以比較形象的管它叫直接可以讀出結(jié)果，簡稱就叫直讀了，在國外沒有這個概念。

直讀光譜儀和ICP都屬于發(fā)射光譜分析儀器,區(qū)別在于他們的激發(fā)方式不同,ICP中文名字是電感耦合等離子體,是通過線圈磁場達(dá)到高溫使樣品的狀態(tài)呈等離子態(tài)然后進(jìn)行測量的,而直讀光譜儀一般采用電火花,電弧或者輝光放電的方式把樣品打成蒸氣進(jìn)行激發(fā)的,在效果上ICP要比直讀光譜儀器的檢出限小,精度高,但是在進(jìn)樣系統(tǒng)上要求非常嚴(yán)格,沒有好的進(jìn)樣系統(tǒng)就只能做溶液樣品.部分國外先進(jìn)的ICP可以做固體樣品，例如熱電ICP.

光電直讀光譜儀特點(diǎn)

計算機(jī)軟件建有數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)，方便了測量數(shù)據(jù)的查詢與打印，也可通過網(wǎng)絡(luò)遠(yuǎn)程傳輸數(shù)據(jù)，方便快捷。

各項系統(tǒng)i獨(dú)立供電，組成單元，使用方便，維護(hù)簡單。

采用光學(xué)部分恒溫措施，保證了儀器的正常運(yùn)行，從而降低了對環(huán)境的要求。

采用高精度直線電機(jī)進(jìn)行入縫掃描，速度快，精i確度高。

采用整體出射狹縫，方面增加通道。

廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司主營：火花直讀光譜儀，光譜機(jī)，金屬材料分析儀，金屬元素分析儀，金屬成分分析儀，進(jìn)口直讀光譜儀，火花直讀光譜儀，光電直讀光譜儀等等

維護(hù)直讀光譜儀的要點(diǎn)

激發(fā)臺的清理

樣品在激發(fā)的過程中，產(chǎn)生大量的金屬蒸氣。一部分金屬蒸氣隨ya氣排出儀器外，剩余的一部分附著在火花室的內(nèi)壁上，造成嚴(yán)重的污染。清洗方法有兩種，一種是利用激發(fā)的間隙。發(fā)現(xiàn)火花室內(nèi)壁粉末較多時，用鋼刷直接清掃，這時不必拆下蓋板，直接用鋼刷清理電極，清掃后要大流量沖洗吹出金屬粉末。如果火花室內(nèi)壁污染嚴(yán)重時，要徹底清洗，要把電極蓋板拆下，將鎢電極拔掉，并用酒精混合溶液清洗。一般低熔點(diǎn)金屬附著層是不易擦掉的，必須氧化鐵拋光粉，進(jìn)行拋光后才能擦掉。清洗后，上好極蓋板，裝上清理好的電極，定好分析間隙的距離，用定距規(guī)，沖洗數(shù)分鐘，空燒激發(fā)試樣幾次，直至激發(fā)斑點(diǎn)呈凝聚放電為止

直讀光譜儀故障處理

真空值下降快故障

處理辦法：看真空值曲線是否平緩，否則，有漏氣的地方，檢查真空室真空蓋密封性，更換密封圈或?qū)蔷o固螺絲。

數(shù)據(jù)不穩(wěn)定

處理方法： 清洗鏡片后重新做標(biāo)準(zhǔn)化，儀器鏡片的污染會導(dǎo)致數(shù)據(jù)測試的結(jié)果不穩(wěn)定，長時間沒有做儀器的曲線校準(zhǔn)也會導(dǎo)致數(shù)據(jù)測試穩(wěn)定性不好。

火花直讀光譜儀應(yīng)用前景分析

利用火花直讀光譜儀進(jìn)行非金屬元素/夾雜物的測定，目前還不是很理想，需要進(jìn)一步研究。納克高宏斌先生、斯派克王彥彪先生、煙臺東方趙珍陽先生均認(rèn)為目前火花直讀光譜儀測定氮尤其是高含量氮已經(jīng)比較常規(guī)，但測定氧、碳、氫元素還比較困難。裴雷先生認(rèn)為：“要測定C,S,O,N,H等元素，不只對儀器有要求，還要求相關(guān)配套的標(biāo)準(zhǔn)樣品，檢測方法標(biāo)準(zhǔn)也要向前發(fā)展?！迸＝騼x器的諸煒先生也表示：“根據(jù)研究顯示：利用火花直讀光譜儀進(jìn)行酸溶鋁測定的結(jié)果與濕法分析結(jié)果之間時常出現(xiàn)偏差，所以進(jìn)行夾雜物的分析還不是很成熟?！?

影響手持式光譜儀射線強(qiáng)度因素

手持式光譜儀的定量分析是以熒光X射線的強(qiáng)度為依據(jù)的，影響手持式光譜儀射線強(qiáng)度的因素會影響分析的準(zhǔn)確度，以下是主要兩大影響因素

1、基體效應(yīng)

基體效應(yīng)包括吸收效應(yīng)及增強(qiáng)i效應(yīng)吸收效應(yīng)包括基體對入射X射線的吸收及對熒光X射線的吸收。因為用射線激發(fā)樣品時，不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進(jìn)入樣品內(nèi)部，而且樣品內(nèi)部分析元素產(chǎn)生的熒光X射線，也必須穿過一定厚度的樣品才能射出。在穿透過程中，這兩種X射線都會因基體元素的吸收而使射線強(qiáng)度減弱，射線減弱會影響對分析元素的激發(fā)效率。

如果入射X射線使基體元素激發(fā)所產(chǎn)生的熒光X射線的波長稍短于分析元素的吸收邊，它會使分析元素產(chǎn)生二次熒光X射線，從而使分析元素的熒光X射線強(qiáng)度增強(qiáng)，這就是基體的增強(qiáng)i效應(yīng)。

如果吸收效應(yīng)占主導(dǎo)地位，則分析結(jié)果偏低，如果增強(qiáng)i效應(yīng)占主導(dǎo)地位，則分析結(jié)果偏高。