
鍍層測厚儀XTD-200-微小樣品膜厚分析
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儀器優(yōu)點:
1. 分析精度極高
2. 分析范圍廣泛
3. 微區(qū)精準(zhǔn)定位
4. 操作簡單快捷
5. 結(jié)果可靠精準(zhǔn)
6. 領(lǐng)先行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
性能優(yōu)勢:
1.先進(jìn)的EFP算法:多層多元素、各種元素及有機(jī)物,甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測量。
2.上照式設(shè)計:實現(xiàn)可對超大工件進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量。
3.自動對焦:高低大小樣品可快速清晰對焦。
4.變焦裝置算法:可對最大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。
5.小面積測量:最小測量面積0.002mm2
6.大行程移動平臺:手動XY滑臺100*150mm,自動XY平臺200*200mm.
結(jié)構(gòu)設(shè)計:
一六儀器研制的測厚儀獨特的光路交換裝置,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達(dá)到視覺與測試定位一體,且X光擴(kuò)散度極??;與EFP軟件配合達(dá)到對焦、變焦雙焦功能,實現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時特征X射線可以穿透測試更厚的表層。
獨創(chuàng)EFP算法:
采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數(shù)法,基于熒光X射線激發(fā)的基本原理,從理論上計算出樣品中每個元素的一次和二次特征X射線的熒光強(qiáng)度,在基于此計算Lachance綜合校正系數(shù),然后使用這些理論a系數(shù)去校正元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng)。
只需少數(shù)標(biāo)樣來校正儀器因子,可測試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬以及有機(jī)物層。