華測 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)半導體芯片類測試儀器
華測 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)半導體芯片類測試儀器
華測 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)半導體芯片類測試儀器
華測 絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)半導體芯片類測試儀器

華測-絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)半導體芯片類測試儀器

價格

訂貨量(臺)

￥9999.00

≥1

聯(lián)系人 肖工

掃一掃添加商家

㜉㜆㜆㜃㜉㜌㜊㜄㜇㜈㜌

發(fā)貨地 北京市海淀區(qū)
進入商鋪
掃碼查看

掃碼查看

手機掃碼 快速查看

在線客服

商品參數(shù)
|
商品介紹
|
聯(lián)系方式
是否進口 是
加工定制 是
類型 半導體芯片類測試儀器
品牌 華測
產(chǎn)地 天津
系統(tǒng) Windows7
漏電流測出功能 不間斷，100μsec以內(nèi)測出
產(chǎn)品用途 絕緣電阻評估系統(tǒng)
是否跨境貨源 是
適用標準 JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6
商品介紹

絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)


 面對電子產(chǎn)品越來越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣bu良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗箱聯(lián)動，高的精度連續(xù)監(jiān)測，高效簡便評估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。適用標準：JPCA-ET04、IPC-TM-6502.6.3F、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A、IPC-TM-650_2.6.3.6。


高精測量

自主開發(fā)連續(xù)通電掃描繼電器方式，配備標準的測量儀表，與環(huán)境試驗箱聯(lián)動，操作簡便。

應力電壓范圍廣泛

標配100V應力電壓（應力電壓/測量電壓），更有300V、500V高電壓規(guī)格備選。

連續(xù)通電掃描方式

具有掃描動作技術(shù)，切換掃描時不發(fā)生無電壓狀態(tài)，測量電壓與偏置電壓均使用同一電壓源控制，可準確控制電壓。

漏電流檢測功能

高速準確捕捉離子遷移現(xiàn)象發(fā)生的細微變化，離子遷移實時監(jiān)測。

專用統(tǒng)計軟件

可實時編輯預覽監(jiān)測實時獲得的數(shù)據(jù)。

專用連接樣件夾具

選配可使連接樣品及線纜方便，試驗效率高。






聯(lián)系方式
公司名稱 北京華測試驗儀器有限公司
聯(lián)系賣家 肖工 （QQ：479014311）
電話 㜄㜉㜄-㜊㜌㜅㜌㜄㜉㜉㜃
手機 㜉㜆㜆㜃㜉㜌㜊㜄㜇㜈㜌
地址 北京市海淀區(qū)
聯(lián)系二維碼