北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
店齡6年 · 企業(yè)認(rèn)證 · 北京市海淀區(qū)
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北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: 沖擊電壓試驗(yàn)儀, 耐電弧測(cè)試儀, 數(shù)字電荷儀, 表面體積電阻率測(cè)試儀, 納米測(cè)試儀, 海綿壓陷硬度測(cè)試儀, 納米犬分析測(cè)試儀, 多功能精密電池測(cè)試分, 高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)
超高真空濺射系統(tǒng)
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訂貨量(臺(tái))
¥9999.00
≥1
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Ulvac超高真空濺射系統(tǒng)
(Ulvac Ultra-high Vacuum Sputtering System)
儀器介紹/Instrument introduction:
真空度高且減小了顆粒影響的研究開(kāi)辟用濺射設(shè)備-超高真空濺射系統(tǒng),該設(shè)備可以應(yīng)用于硬盤磁頭的磁性多層膜、太陽(yáng)能電池的透明電極、MEMS用絕緣材料等產(chǎn)品的研究開(kāi)辟和少量生產(chǎn)。
濺射設(shè)備的真空度通常為5×10-6Pa左右,JSP-8000則能夠達(dá)到7×10-7Pa。而且,濺射方式采用了使陰極和晶圓直立的“Side deposition methode”。顆粒附著量?jī)H為該公司晶圓和陰極上下配置的傳統(tǒng)產(chǎn)品的1/30。膜厚分布和膜特性經(jīng)過(guò)確認(rèn),均達(dá)到了該公司現(xiàn)有產(chǎn)品的水平。
受到電子部件開(kāi)發(fā)周期縮短的影響,使用同一臺(tái)生產(chǎn)設(shè)備進(jìn)行研究開(kāi)發(fā)和少量生產(chǎn)的要求日趨強(qiáng)烈。為此,在研究開(kāi)發(fā)用設(shè)備中,加入了能夠向成膜室內(nèi)自動(dòng)運(yùn)送晶圓的晶圓搬運(yùn)設(shè)備和能夠提高成膜速度的陰極。通過(guò)以上措施,處理速度能夠比以往的研究開(kāi)發(fā)設(shè)備提高5~10倍。
主要用途/Applications:
濺射沉積Pd、Ti、Zr、Ta、Al、Cu、W、 NiFe、FeMn,、CoFeS等各種納米級(jí)單層或多層納米厚度膜(通常低于50nm)。
設(shè)備特點(diǎn)/Features:
可做超薄薄膜
可做多層薄膜(有五個(gè)靶源)
技術(shù)指標(biāo)/Specifications:
極限真空:1×10-6 Pa
膜厚: 0nm~100nm
濺射速率:2-4nm/min
薄膜均勻性與重復(fù)性:3英寸襯底均勻性優(yōu)于±2 % ,重復(fù)性優(yōu)于±2%
靶材尺寸:2英寸;5個(gè)靶位;1RF源,2DC源
基片尺寸:3英寸基片與破片