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淺談臺(tái)式光譜儀和手持式光譜儀之間的區(qū)別

隨著光譜儀的應(yīng)用范圍越來越廣泛，光譜儀的種類也越來越多。本文主要聊聊臺(tái)式光譜儀和手持光譜儀的區(qū)別，一起來看看吧。

臺(tái)式光譜儀的特點(diǎn)：移動(dòng)不方便，需求在特定情況下運(yùn)行，控制方面也很復(fù)雜。因此，操縱員工的技能水平很高。臺(tái)式光譜儀的其余部分是對(duì)被測物體的需求破壞分析。

常用的工作臺(tái)界限：鍛造，鋼鐵，金屬接收和冶煉以及軍事，航空航天，天i然氣，化工，高等院校，商檢，質(zhì)檢等單位。

手持式光譜儀特點(diǎn)：與桌面直觀的功能相比，它體積小，重量輕，攜帶方便。此外，手持式光譜儀可用于現(xiàn)場調(diào)查，無需像桌面那樣的特定職業(yè)情況，也許可以做到快速和非破壞性效果不會(huì)損壞被測物體。盡管手持式光譜儀的測量值相對(duì)低于臺(tái)式分析結(jié)構(gòu)的測量值。

手持式通用限制：漏電i，石油化工，考古，金屬加工，壓力容器，廢料接收，航空航天，地質(zhì)勘探，礦山測繪，挖掘，礦石分選，采i礦貿(mào)易，金屬冶煉，情況監(jiān)測，土壤監(jiān)測，玩具，時(shí)裝，鞋帽，電子產(chǎn)品等。

光譜儀概述

光譜儀( Spectroscope)又稱分光儀。以光電倍增管等光探測器在不同波長位置，測量譜線強(qiáng)度的裝置。其構(gòu)造由一個(gè)入射狹縫，1個(gè)色散系統(tǒng)，一個(gè)成像系統(tǒng)和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域，并在選定的波長上(或掃描某一波段)進(jìn)行強(qiáng)度測定。分為單色儀和多色儀兩種。是將成分復(fù)雜的光分解為光譜線的科學(xué)儀器，由棱鏡或衍射光柵等構(gòu)成，利用光譜儀可測量物體表面反射的光線。

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直讀光譜儀的激發(fā)部位該選擇在什么地方

直讀光譜儀的激發(fā)部位該選擇在什么地方，你知道嗎？接下來就由小編根據(jù)自己長期以來的經(jīng)驗(yàn)和資料總結(jié)來為你簡單的介紹一下吧，希望對(duì)會(huì)有所幫助。

一般選在距離試樣中心三分之二的圓周部位。如鋼鐵試樣在模具中凝固以后會(huì)形成三個(gè)晶區(qū)即精細(xì)粒區(qū)、柱狀晶區(qū)和等軸晶區(qū)。試樣外層是精細(xì)粒區(qū)，該區(qū)域晶粒雜亂且區(qū)域較?。ㄒ话阒挥袃扇撩祝?；試樣中心區(qū)域是等軸晶區(qū)，就晶體本身來說較適合光譜分析，但是該區(qū)域多縮孔、砂眼、夾雜等缺陷；所以距離試樣中心三分之二的圓周是理想的分析區(qū)域，該區(qū)域多為柱狀晶，宏觀偏析也較小，適合光譜分析。另外，鑄態(tài)試樣凝固時(shí)間越短越有利于分析，以避免偏析的出現(xiàn)。

火花直讀光譜儀激發(fā)樣品出現(xiàn)白點(diǎn)通常是由以下原因造成的：

(1) 主要的就是ya氣不純才造成白點(diǎn),只要ya氣純度達(dá)到5個(gè)9就好了

(2) 激發(fā)的點(diǎn)小，周圍沒有黑的，激發(fā)點(diǎn)熔融的不好

(3) 光譜激發(fā)強(qiáng)度不夠!

這種情況一般都是ya氣問題，達(dá)不到分析要求，如果ya氣沒有問題可能就是:預(yù)燃時(shí)間不夠，有的也和樣品有關(guān)系,比如說激發(fā)點(diǎn)打到了亮斑，金屬夾雜等.以前還遇到過壓制的樣品密度不夠，也出現(xiàn)過類似的現(xiàn)象！多激發(fā)幾點(diǎn)看看是不是都是出現(xiàn)同樣的結(jié)果？更換ya氣試一試！

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光電直讀光譜儀選擇應(yīng)注意的事項(xiàng)

光電直讀光譜儀是指應(yīng)用光電轉(zhuǎn)換接收方法作多元素同時(shí)分析的發(fā)射光譜儀器。由于電感耦合高頻等離子體光源的廣泛使用，使光電直讀光譜儀在光譜儀中占有主要地位。

光電直讀光譜儀是黑色金屬及有色金屬（鐵基、鋁基、銅基、鎳基等）材料中化學(xué)元素成份快速、定量的分析儀器。廣泛應(yīng)用于冶金、機(jī)械、鑄造、金屬、科研等領(lǐng)域，進(jìn)行冶煉爐前的在線分析以及中心實(shí)驗(yàn)室的產(chǎn)品檢驗(yàn)，是控制產(chǎn)品質(zhì)量的有效手段之一。

光電直讀光譜儀選擇應(yīng)注意以下事項(xiàng)：

一、光源發(fā)生器的選擇

為進(jìn)行多種樣品和元素的分析，需要各種發(fā)生器。同時(shí)測定多種元素時(shí)，根據(jù)測定范圍選一種激發(fā)方法。

火花光源比較適合于同時(shí)測定多種元素，如金屬中的合金成分和雜質(zhì)元素的定量分析。電弧光源適用于測定樣品中的痕量成分。低壓電容放電光源使電路參數(shù)變化達(dá)到從電弧到火花階段性變化，可用于多目的的分析。

對(duì)直讀光譜儀射線強(qiáng)度有影響的因素

對(duì)直讀光譜儀射線強(qiáng)度有影響的因素是哪些呢？直讀光譜儀的定量分析是以熒光X射線的強(qiáng)度為依據(jù)的，影響光譜儀射線強(qiáng)度的因素會(huì)影響分析的準(zhǔn)確度，以下是主要兩大影響因素：

一、基體效應(yīng)

基體效應(yīng)包括吸收效應(yīng)及增強(qiáng)i效應(yīng)。

吸收效應(yīng)包括基體對(duì)入射X射線的吸收及對(duì)熒光X射線的吸收。因?yàn)橛蒙渚€激發(fā)樣品時(shí)，不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進(jìn)入樣品內(nèi)部，而且樣品內(nèi)部分析元素產(chǎn)生的熒光X射線，也必須穿過一定厚度的樣品才能射出。在穿透過程中，這兩種X射線都會(huì)因基體元素的吸收而使射線強(qiáng)度減弱，射線減弱會(huì)影響對(duì)分析元素的激發(fā)效率。