廣州儀德精密科學儀器股份有限公司主營：直讀光譜儀,熒光光譜儀,日本理學光譜儀,便攜式光譜儀,顯微鏡

我國學者對不同時期WDXRF的進展曾予以評述。WDXRF譜儀從儀器光路結構來看，依然是建立在布拉格定律基礎之上，但儀器面目全新?？v觀30年來的發(fā)展軌跡，可總結出如下特點 。

基本參數(shù)法已用于常規(guī)分析。在定量分析過程中，進行基體校正時，在20世紀80年代初商用軟件配有經(jīng)驗影響系數(shù)法校正的程序，今天各個廠家生產的儀器配置了在線基本參數(shù)法程序或可變理論影響系數(shù)法程序，當試樣的物理化學形態(tài)與標準樣品相似的情況下，使用少量標準樣品甚至一個標準樣品，也可以獲得的定量分析結果。

日本理學波長色散X射線熒光硫(S)分析儀，根據(jù)ASTM D2622-10測量石油燃料中超低硫(ULS)

波長色散X射線熒光硫(S)分析儀

Micro-Z ULS

為石油、以及其他燃料的超低硫分析設計的理學Micro-Z ULS波長色散X射線熒光儀（WDXRF），擁有一個新的特征，可以同時測定硫的峰強和背景強度。測定并校正背景強度變化的能力使獲得一個更好的凈峰強度測定，從而獲得優(yōu)越的校正以及提高精度。理學Micro-Z ULS 遵照ASTM 2622-10、ISO 20884和JIS K2541-7方法。

ZSX Primus III+

用戶使用EZ掃描軟件可以在無需任何事先設置即可分析位置樣品。這個節(jié)省時間的特征僅需點擊鼠標和輸入樣品名稱。結合SQX基本參數(shù)軟件，快速提供準確的XRF結果。SQX能夠自動校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電子（輕、超輕元素）、變化的環(huán)境、雜質和不同的樣品尺寸校正輔助的激發(fā)效應。使用匹配庫和的掃描分析程序提高準確性。

儀德人的深耕細作下，客戶遍及汽車制造、鋼鐵冶金、有色金屬、電子電器、能源電力、石油化工、鐵路運輸、機械制造、商檢、質檢、環(huán)境保護、食品藥品和教學科研等各行各業(yè)。

Features

從O到U的元素分析

上照射式光學化污染

小占地面積節(jié)省實驗室空間

高精度樣品定位

特殊光學減少由于彎曲的樣品表面造成的錯誤

統(tǒng)計過程控制（SPC）的軟件工具

優(yōu)化抽空和真空泄露率改善吞吐量