北京京國藝科技發(fā)展有限公司主營：熔金爐,鉆石腰圍鏡, 電子天平密度儀, RoHS分析儀

RoHS分析儀簡介

金屬測(cè)試樣品的厚度至少要達(dá)到3mm，若單一樣品厚度不足，可堆疊數(shù)個(gè)樣品至適當(dāng)厚度。其它合金必須至少1mm厚。 油墨或其它液體需用樣品杯進(jìn)行量測(cè)，深度達(dá)到15mm；體積小的顆粒也應(yīng)置于樣品杯壓緊，且容積應(yīng)達(dá)到樣品杯的2/3。表面處理層應(yīng)盡量與本體分離（如涂層）：對(duì)于確實(shí)無法分離的（如鍍層），可對(duì)表面處理層進(jìn)行初篩（如使用XRF光譜儀等手段），篩選合格則不拆分；篩選不合格，可使用機(jī)械或非機(jī)械方法分離（如使用能溶解表面處理層而不能溶解本體材料的溶液溶解提?。?。

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X熒光光譜分析儀優(yōu)點(diǎn)

以下內(nèi)容由北京京國藝科技發(fā)展有限公司為您提供，今天我們來分享RoHS分析儀的相關(guān)內(nèi)容，希望對(duì)同行業(yè)的朋友有所幫助！

X熒光光譜分析儀優(yōu)點(diǎn)：

a) 分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，10~300秒就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。

b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)價(jià)位的測(cè)定 。

c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

e) 分析精密度高。目前含量測(cè)定已經(jīng)達(dá)到ppm級(jí)別。

f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

RoHS分析儀配置

探測(cè)器：

類型：電制冷硅半導(dǎo)體探測(cè)器

產(chǎn)地：美國

Be窗厚度：1mil 

分辨率：149eV

系統(tǒng)峰背比：≥ 5000/1

信號(hào)處理器：

規(guī)格：第五代數(shù)字信號(hào)處理器

產(chǎn)地：美國

信號(hào)通過率2,000,000cps

MCA通道數(shù)8K

探測(cè)器電源：

規(guī)格：第五代探測(cè)器、信號(hào)處理器反饋穩(wěn)壓電源

產(chǎn)地：美國

輸入電壓：5V

高壓電源：

規(guī)格：數(shù)控高壓電源

產(chǎn)地：美國

電壓：0 - 50kV

電流：0 - 2mA

功率：50W

電壓調(diào)整率：0.01% （從空載到滿載）

電流調(diào)整率：0.01% （從空載到滿載）

8小時(shí)穩(wěn)定性：0.05%

光管：

規(guī)格：水冷光管

產(chǎn)地：上海

電壓: 0 - 50kV

電流: 0 - 1mA

功率: 50W

以上就是為大家介紹的全部內(nèi)容，希望對(duì)大家有所幫助。如果您想要了解更多RoHS分析儀的知識(shí)，歡迎撥打圖片上的熱線聯(lián)系我們。