價(jià)格：面議

TR5001E搭配兩段式壓床將可降低治具成本，此ICT為PCBAs測(cè)試之可擴(kuò)充平臺(tái)。TR5001E可以依客戶的測(cè)試需求，提供經(jīng)濟(jì)的測(cè)試解決方案，并且可完全滿足大多數(shù)客戶之測(cè)試要求。TR5001E整合MDA和可選擇性的ICT及Functional測(cè)試功能于同一平臺(tái),可以精簡(jiǎn)人力，縮短測(cè)試時(shí)間并提高產(chǎn)能。   

TR5001E搭配兩段式壓床將可降低治具成本，此ICT為PCBAs測(cè)試之可擴(kuò)充平臺(tái)。TR5001E可以依客戶的測(cè)試需求，提供經(jīng)濟(jì)的測(cè)試解決方案，并且可完全滿足大多數(shù)客戶之測(cè)試要求。TR5001E整合MDA和可選擇性的ICT及Functional測(cè)試功能于同一平臺(tái),可以精簡(jiǎn)人力，縮短測(cè)試時(shí)間并提高產(chǎn)能。

TR5001E特點(diǎn)

? 模組化升級(jí)選項(xiàng)，可將MDA設(shè)備升級(jí)至ICT與功能測(cè)試系統(tǒng)

? 高測(cè)試覆蓋率之解決方案

? 少量測(cè)點(diǎn)之解決方案與PXI模組功能測(cè)試擴(kuò)充

? 人性化接口搭配快速又簡(jiǎn)單的程序發(fā)展 

規(guī)格

? 測(cè)試點(diǎn)數(shù)     可達(dá)3200(模擬)/1600(數(shù)字)

? 作業(yè)系統(tǒng)    微軟Microsoft Windows 2000/XP/7

? 測(cè)試治具    兩段式壓床

? 可測(cè)電路板尺寸  標(biāo)準(zhǔn): (寬) 360 mm x (長(zhǎng)) 300 mm x (高) 100 mm

                        選配: (寬) 500 mm x (長(zhǎng)) 350 mm x (高) 100 m

? 模擬硬件

1、六線式量測(cè)

2、可編程AC電壓源/DC電壓源與電流源/DC高電壓源

3、AC/DC電壓源, DC電流源量測(cè)

4、元件R/L/C量

? 選配硬件

·模擬測(cè)試

1、TestJet技術(shù)非向量式開(kāi)路檢測(cè)，任意波形產(chǎn)生器(AWG)

·數(shù)字測(cè)試

1、每腳位全新數(shù)位1:1非多工式驅(qū)動(dòng)/接收比設(shè)計(jì)

3、可編程DUT電源: 25V@8A

4、邊界掃描, BGA Tree測(cè)試能力

5、支援快閃記憶體及EEPROM及MAC的在線燒錄

。良率管理系統(tǒng)

? 尺寸        (寬) 1000 mm x (深) 900 mm x (高) 1680-1770 mm

? 重量             大約200 kg