濟寧儒佳檢測儀器有限公司主營：超聲波測厚儀,超聲波探傷儀,磁粉探傷機,觀片燈
超聲波測厚儀

超聲波無損傷檢測原理1.1超聲波概述超聲波是機械波的一種，在媒介中傳播遵循幾何光學(xué)原則，會產(chǎn)生波的反射、折射、散射、疊加等現(xiàn)象。超聲波探傷物理原理是采用機械振動與波動進行結(jié)構(gòu)無損探傷。 超聲波探傷方法按其原理可分為三類：脈沖反射法、穿透法和共振法。 其中脈沖反射法為常用。脈沖法用超聲波探頭發(fā)射脈沖到構(gòu)件需要被檢測的部位，根據(jù)反射波的情況分析結(jié)構(gòu)內(nèi)部是否存在缺陷。脈沖反射法中的方法為缺陷回波法。其示意圖如下所示。當構(gòu)件內(nèi)沒有損傷時，超聲波只在構(gòu)件上表面和下表面出現(xiàn)反射脈沖T和B，而在構(gòu)件內(nèi)部不產(chǎn)生反射脈沖，如中（1）所示。反之，如果構(gòu)件內(nèi)部有損傷，則超聲波在構(gòu)件內(nèi)部傳播時也會反射脈沖F

超聲波測厚儀

超聲波測厚儀常見問題解決測量前應(yīng)被測物體表面所有的灰塵、污垢及銹蝕物，鏟除油漆等復(fù)蓋物。過份粗糙的表面會引起測量誤差，甚至儀器無讀數(shù)。測量前應(yīng)盡量使被測材料表面光滑，可使用磨、拋、銼等方法使其光滑。還可使用高粘度耦合劑。  測量圓柱型材料，如管子、油桶等，選擇探頭軸線與被測材料軸線相交時為情況。簡單地說，將探頭與被測材料耦合，然后圍繞被測物軸線轉(zhuǎn)動探頭或者垂直于被測物軸線平行移動探頭，使探頭延遲塊的中線與被測物接觸，選擇穩(wěn)定的讀數(shù)，作為材料的準確厚度。對于不同直徑的被測物選用不同的延遲塊對測量會有幫助的?？梢栽诒粶y物表面蒙上一塊細砂紙，然后前后移動探頭，會很容易就把在探頭延遲塊前端磨出圓弧。

超聲波測厚儀

第二代儀器，采用的是“界面——回波”技術(shù).

即，事先剔除脈沖信號從晶振片開始到被測物表面的時間；

這種技術(shù)的出現(xiàn)，其目的本來是為了剔除“晶振片到探頭保護膜的距離”給測厚帶來的誤差，事實上，這個“距離”，與要測的厚度通常不在一個數(shù)量級上，因此，其適用性只在一個很窄的范圍內(nèi)才有意義。這種技術(shù)自本世紀初，在國外的儀器中開始有大量的應(yīng)用，但作為一種“權(quán)宜之計”的過渡技術(shù)，很快被跨越，不到五年的時間，就讓出了它的“優(yōu)越地位”。

第三代儀器，采用的是“回波——回波”技術(shù)。

即，以“次底面回波”和“第二次底面回波”的時間差為基礎(chǔ)來計算厚度；這種技術(shù)，與“界面——回波”技術(shù)有相同的地方，即，都不用考慮“晶振片到探頭保護膜的距離”帶來的測量誤差，但同樣，只在小范圍內(nèi)才有適用意義。

這種技術(shù)得以應(yīng)用，其更大意義在于：該技術(shù)改變了儀器的電路結(jié)構(gòu)，使得儀器可以給換能器（探頭）更大的能量、并能更好地分檢回波信號，因此，應(yīng)對“信號衰減”，采用這種技術(shù)的儀器比前兩代儀器有了質(zhì)的提升；也因此，“回波—回波”，成了迄今為止先進超聲波測厚儀共同的技術(shù)基礎(chǔ)。

第四代儀器，采用的是“A掃描信號測厚”技術(shù)。

前面三代都是“讀數(shù)型測厚儀”，不管讀哪幾次波，*終都是靠事先設(shè)定的程序由儀器來判定和計算的。而“A掃測厚儀”則是將所有的信號都顯示在屏幕上，由操作者自行判斷、并且可以計算任意兩次波的時間差，也就是說，將測量的主動權(quán)交給了操作者，這對于分析型測厚、以及雜波信號較多的測厚非常有幫助；

第五代儀器，采用的是單晶探頭。

前面四代測厚儀，使用的都是雙晶探頭（只有在超薄件測厚中，才有專門的機型使用高頻單晶探頭），而雙晶探頭，由于晶振片排列的結(jié)構(gòu)性因素，超聲波的傳遞呈現(xiàn)出一個“V”型路徑，這意味著，晶振片發(fā)射和接收信號的有效面積勢必受到“V”路徑的影響，也就是說，每個雙晶探頭的測厚范圍受晶振片直徑、晶振片斜角的影響較大。