OPTO-COUPLER光電耦合光耦測試儀
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西安天光測控技術(shù)有限公司

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商品參數(shù)
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品牌 天光測控
型號 ST-DP2000_OPTO-COUPLER
加工定制 加工
測試范圍 ±2.5mV~2KV / ±1nA~100A
測試精度 1%+10mV / 1%+10nA+20pA/V
測試項目 直流靜態(tài)參數(shù)
柵極電壓 ±2.500mV~20V(選配80V)
柵極電流 ±1nA~10A(選配20A)
商品介紹


OPTO-COUPLER 光電耦合光耦測試儀

ST-DP2000_OPTO-COUPLER

可測試 19大類27分類 大中小功率的 分立器件及模塊的 靜態(tài)直流參數(shù)
(測試范圍包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件)
主極輸出 2000V / 50~1250A,分辨率*高至1mV / 10pA


支持曲線掃描圖示功能


  ? 產(chǎn)品應(yīng)用
應(yīng)用領(lǐng)域
OPTO-COUPLER光電耦合光耦測試儀適用于軍工院所、高校、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數(shù)控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導(dǎo)體器件應(yīng)用產(chǎn)業(yè)鏈 ……
主要用途
? 測試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計階段的初始測試)
? 失效分析(對失效器件進(jìn)行測試,查找失效機理。以便于對電子整機的整體設(shè)計和使用過程提出改善方案 )
? 選型配對(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對)
? 來料檢驗(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
? 產(chǎn)線自動化測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設(shè)備,實現(xiàn)規(guī)?;⒆詣踊瘻y試)
  ? 產(chǎn)品簡述
       OPTO-COUPLER光電耦合光耦測試儀產(chǎn)品的擴展性強,通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試插座,自動補償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降,保證測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測試結(jié)果,前面板的功能按鍵方便了系統(tǒng)操作。通過功能按鍵,系統(tǒng)可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。
       曲線追蹤儀(晶體管圖示儀)功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線,可快速而準(zhǔn)確地生成精確的數(shù)據(jù)點。數(shù)據(jù)增量是可編程的線性或?qū)?shù),典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數(shù)據(jù)點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFETRDSvs. VGS 等曲線數(shù)據(jù)。此外, 針對多條曲線,設(shè)備可以根據(jù)每條曲線的數(shù)據(jù)運行并將所獲數(shù)據(jù)自動發(fā)送到一個單獨的 Excel 工作表。系統(tǒng)能夠更快,更簡潔的創(chuàng)建曲線(單擊,雙擊,選擇輸入菜單,單擊)。就是這么簡單。
        設(shè)備支持在單個 DUT 上運行高達(dá) 10 條不同曲線的能力,在運行過程中,每個圖表都是可視的,每個數(shù)據(jù)集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統(tǒng)運行速度快,可進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄,提供更高級的數(shù)據(jù)工具箱,能夠運行多條曲線并自動排序,自動將數(shù)據(jù)存入 Excel 表格,具有縮放功能,光標(biāo)重新運行功能以及其他許多優(yōu)點。
       系統(tǒng)提供與機械手、探針臺、電腦的連接口,可以支持各種不同輔助設(shè)備的相互連接使用。



? 產(chǎn)品特點

?OPTO-COUPLER光電耦合光耦測試儀的試范圍廣(19大類,27分類)
?級擴展性強,通過選件可提高電壓電流,和增加測試品種范圍。支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A
?用脈沖測試法,脈沖寬度為美軍標(biāo)規(guī)定的300us
?測器件引腿接觸自動判斷功能,遇到器件接觸不良時系統(tǒng)自動停止測試, 保證被測器件不受損壞
?正的動態(tài)跨導(dǎo)測試。(主流的直流方法測動態(tài)跨導(dǎo) ,其結(jié)果與器件實際值偏差很大)
?統(tǒng)故障在線判斷修復(fù)能力,便于應(yīng)急處理排障
?極管極性自動判別功能,無需人工操
?IV 曲線顯示 / 局部放大
?序保護*大電流/電壓,以防損壞
?種繁多的曲線
?編程的數(shù)據(jù)點對應(yīng)
? 增加線性或?qū)?shù)
?編程延遲時間可減少器件發(fā)熱
?存和重新導(dǎo)入入口程序
?存和導(dǎo)入之前捕獲圖象
?線數(shù)據(jù)直接導(dǎo)入到 EXCEL
?線程序和數(shù)據(jù)自動存入 EXCEL

? 測試能力
序號測試器件測試參數(shù)
01IGBTICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON;VGEON;VF;GFS
02MOSFET / MOS場效應(yīng)管 IDSS;IDSV;IGSSF;  IGSSR;VGSF;VGSR;BVDSS;VGSTH;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS
03J-FET / J型場效應(yīng)管IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON;IDSS;GFS;VGSOFF
04晶體管(NPN/PNP)ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO;BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF
05DIODE / 二極管IR;BVR ;VF
06ZENER / 穩(wěn)壓、齊納二極管IR;BVZ;VF;ZZ
07DIAC / 雙向觸發(fā)二極管VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,
08OPTO-COUPLER / 光電耦合ICOFF、ICBO;IR;BVCEO;BVECO;BVCBO;BVEBO;CTR;HFE;VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode)
09RELAY / 繼電器RCOIL;VOPER;VREL;RCONT;OPTIME; RELTIME
10TRIAC / 雙向可控硅VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH-
11SCR / 可控硅IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM;IGT;VGT;IL;IH
12STS / 硅觸發(fā)可控硅IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ;VPK-;VGSW+;VGSW-
13DARLINTON / 達(dá)林頓陣列ICBO;ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO;BVCER;BVCEE;BVCES;BVCBO;BVEBO;hFE;VCESAT;VBESAT;VBEON
14REGULATOR / 三端穩(wěn)壓器Vout;Iin;
15OPTO-SWITCH / 光電開關(guān)ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF
16OPTO-LOGIC / 光電邏輯IR;VF;VOH;VOL;IFON; IFOFF
17MOV / 金屬氧化物壓變電阻ID+ ID-;VN+;  VN-;VC+ ;VCLMP-;VVLMP+ ;
18SSOVP / 固態(tài)過壓保護器ID+ ID-;VCLAMP+, VCLAMP-;VT+、VT-;IH+、IH-;;IBO+ IBO-;VBO+  VBO-;VZ+  VZ-
19VARISTOR / 壓變電阻ID+;  ID-;VC+   ;VC-


產(chǎn)品系列

晶體管圖示儀
半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)
靜態(tài)測試(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)
動態(tài)測試(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)
環(huán)境老化測試(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)
熱特性測試(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)
可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件

聯(lián)系方式
公司名稱 西安天光測控技術(shù)有限公司
聯(lián)系賣家 張先生
手機 萦萧萨萩萬萪萤萫萦萤萭
地址 陜西省西安市
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