EDX4500HROHS檢測設(shè)備利用XRF檢測原理迅速、準(zhǔn)確、無損地分析各種要素成分。SDD硅漂移探測器具有良好的能量線性、能量分辨率和可譜特性。

產(chǎn)品說明、技術(shù)參數(shù)和配置。

EDX4500HROHS檢測設(shè)備利用XRF檢測原理迅速、準(zhǔn)確、無損地分析各種要素成分。

該儀器的主要特點是利用智能真空系統(tǒng)，對Si、P、S、Al、Mg等輕量元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可以正確分析高含量的Cr、Ni、Mo等重點要素，在冶煉過程控制中測試時間短，大大提高了測試效率和工作效率。

另外，合金分析、全要素分析、有害要素檢測的應(yīng)用也非常廣泛。