Filmetrics-F40薄膜厚度測量儀-膜厚儀

         結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng)

Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系統(tǒng)                                  Filmetrics F40-UV SS-Microscope-UVX-1系統(tǒng)

        Filmetrics的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。

        當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進行，或者其他應用要求光斑小至1微米時，F(xiàn)40是的選擇。使用先前足部校正顯微鏡的物鏡，再進行測量，即可獲得的厚度及光學參數(shù)值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，F(xiàn)40就可以和市面上多數(shù)的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測量位置。

* 取決于材料

1.使用5X物鏡參考

2.是基于連續(xù)20天，每天在Si基底上對厚度為500納米的SiO2 薄膜樣品連續(xù)測

量100次所得厚度值的標準偏差的平均值

3.是基于連續(xù)20天，每天在Si基底上對厚度為500納米的SiO2薄膜樣品連續(xù)測

量100次所得厚度值的2倍標準偏差的平均值

選擇Filmetrics的優(yōu)勢

? 桌面式薄膜厚度測量的全球

? 24小時電話，E-mail和在線支持

? 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標準分析軟件

附 加 特 性

? 嵌入式在線方式

? 免費離線分析軟件

? 精細的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效地存儲，重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果

相關(guān)應用

半導體制造                                  生物醫(yī)學原件

? 光刻膠                                     ? 聚合物/聚對二甲苯

? 氧化物/氮化物                         ? 生物膜/球囊壁厚度

? 硅或其他半導體膜層                 ? 植入涂層

微電子                                      液晶顯示器

? 光刻膠                                      ? 盒厚

? 硅膜                                         ? 聚酰亞胺

?氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡             ? 導電透明膜