?X射線衍射儀XRD

項(xiàng)目簡介：

X射線衍射儀 (X-ray diffraction，XRD)是通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時，該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此，X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。

常規(guī)廣角: 3-120°，測試速率：10°/min、5°/min、2°/min、2°/min。

儀器介紹：

1）儀器型號：Rigaku D/max-2200

X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測定等。并且，可通過峰面積計算進(jìn)行定量分析?？赏ㄟ^半高寬、峰形等進(jìn)行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。日本理學(xué)Rigaku D/max-2200型X射線衍射儀高速運(yùn)轉(zhuǎn)及高精度的角度重現(xiàn)性提供快速可靠性高的數(shù)據(jù)，垂直型測角儀可用于分析各種狀態(tài)的樣品，擴(kuò)大了使用范圍。

  zui大管電壓：60kv

  掃描角度范圍：3°-120°

  掃描速度：0.1°-50°/min

  回轉(zhuǎn)速度：1000°/min

  測試精度：0.001°/ 步

樣品要求：

粉末樣品：提供100mg以上，顆粒均勻，粒度在45um左右或過200目篩子

塊體樣品：尺寸要求1*1*1cm左右，表面平整

數(shù)據(jù)展示：

常見問題：

1）為什么要求XRD測試粉末樣品要稍微多一些？

因?yàn)榉勰悠芬仢M整個樣品臺，不然X射線可能會打在樣品臺上，影響數(shù)據(jù)質(zhì)量。

2）為什么XRD測試要求薄膜（塊體）樣品尺寸要合適？

因?yàn)榉胖帽∧ぃ▔K體）樣品的樣品臺尺寸是固定的，用橡皮泥來固定樣品，樣品太大放不進(jìn)去，樣品太小不好固定。

3）為什么XRD數(shù)據(jù)的峰強(qiáng)度較低，甚至沒有明顯的衍射峰？

樣品的衍射峰強(qiáng)度最主要跟樣品本身的結(jié)晶度有關(guān)，其次跟樣品量以及儀器的功率有關(guān)系。