二次離子質(zhì)譜技術(shù)固體表面分析技術(shù)及生物醫(yī)藥領(lǐng)域的應(yīng)用

       二次離子質(zhì)譜是一種具有超高分辨率和靈敏度的固體表面分析技術(shù)。它可以分析氫元素到鈾元素在內(nèi)的所有元素和同位素，還可以得到固體表面官能團(tuán)和分子結(jié)構(gòu)等信息。SIMS可以分為靜態(tài)SIMS（SSIMS）和動(dòng)態(tài)SIMS（DSIMS）兩種類型，通過不同掃描類型，得到二次離子質(zhì)譜圖、化學(xué)成像、動(dòng)態(tài)深度剖析曲線等。

       原理是利用具有一定能量的初級(jí)離子束轟擊固體材料表面，再利用質(zhì)譜分析檢測(cè)被初級(jí)離子束濺射出的二次離子的質(zhì)荷比，從而得到樣品信息。如今應(yīng)用在SIMS中最廣泛的質(zhì)譜檢測(cè)器是飛行時(shí)間質(zhì)譜儀（TOF），TOF-SIMS的分辨率可以達(dá)到104，微區(qū)分辨率達(dá)到100nm2，深度分辨率達(dá)到1nm，二次離子濃度靈敏度達(dá)到ppm級(jí)別。微源檢測(cè)可以提供德國ION-TOF先進(jìn)TOF-SIMS儀器檢測(cè)，為客戶提供完善的SIMS技術(shù)解決方案。

       以其各種優(yōu)異的性能和特點(diǎn)SIMS技術(shù)被廣泛地用于半導(dǎo)體行業(yè)，半導(dǎo)體硅晶片制程的越來越小，SIMS逐漸成為分析半導(dǎo)體器件表面沾污缺陷、研究元素?fù)诫s等不可替代的手段。除此之外，SIMS的應(yīng)用近年來也不斷發(fā)展到生物醫(yī)藥、材料、化學(xué)等領(lǐng)域。

       其中在生物醫(yī)藥領(lǐng)域，利用TOF-SIMS技術(shù)對(duì)生物細(xì)胞進(jìn)行化學(xué)成像分析受到越來越多的研究人員關(guān)注，例如使用TOF-SIMS研究生物組織或生物薄膜上蛋白質(zhì)等分子行為、細(xì)胞界面特性、藥物作用、疾病診斷等。和MALDI-TOF-MS、ESI-MS等質(zhì)譜相比，TOF-SIMS的靈敏度更高且可以進(jìn)行二維或三維化學(xué)成像。

下圖為分別使用SSIMS和DSIMS對(duì)冠狀動(dòng)脈支架中的藥物進(jìn)行分析的案例。其中的質(zhì)譜圖就是通過SSIMS得到樣品表面化學(xué)信息，下方的化學(xué)成像則是通過DSIMS層層剝離，得到的不同深度下的藥物分布圖。

公司介紹：

       微源檢測(cè)，是集研發(fā)分析測(cè)試服務(wù)、藥物質(zhì)量研究、基因毒雜質(zhì)研究、元素雜質(zhì)研究、結(jié)構(gòu)確認(rèn)、生物藥分析服務(wù)等一體，面向全球的獨(dú)立第三方生物醫(yī)藥研發(fā)測(cè)試服務(wù)公司。

由國內(nèi)領(lǐng)xian的科學(xué)服務(wù)企業(yè)上海泰坦科技股份有限公司（簡稱：泰坦科技）參股成立，秉承“讓檢測(cè)精zhun又高xiao”的價(jià)值觀：

l資質(zhì)實(shí)驗(yàn)室 CMA,CNAS，按照ISO-17025和GMP要求建立的實(shí)驗(yàn)室

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l已服務(wù)100+生物制藥企業(yè)

l現(xiàn)已成功完成2189個(gè)項(xiàng)目

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