從定量分析的觀點來考慮，對光源的要求如下：
1．分析靈敏度高，并能分析痕量、微量元素分析，靈敏度可達ppm或ppb數(shù)量級。
2．濃度靈敏度高，即當分析元素含量C有小的變化時，相應(yīng)的分析線強度2變化要大，即dI／dc要大。
3．在激發(fā)過程中，光源應(yīng)有良好的穩(wěn)定性和再現(xiàn)性，這是保證分析準確度的基本要求。
4．基體效應(yīng)小，試料中基體含量變化時，分析元素的結(jié)果不受基體變化的影響。第三元素的影響，組織結(jié)構(gòu)的影響，試樣形狀和質(zhì)量的影響要小。
5．予燃時間，曝光時間(積分)要短，可提高分析效率和分析速度。

通常來說，光譜儀有三個重要組成部分：狹縫（Slit）、色散元件（Dispersive element）、檢測器（Detector）。在光譜儀性能評價中，重要的評價指標之一便是色散能力（Dispersive power）。
簡單而言，就是色散元件能夠把復(fù)色光分散到多寬的范圍上，光被分散地越寬，光譜儀的分辨率自然越好。
可以看到，焦平面越遠，刻線越密，色散能力越強，后者受到光柵制作工藝限制，傳統(tǒng)的光譜儀往往在上下功夫，這也是光譜儀做的比較大的原因。
然而，值得注意的是，你把光譜儀的分辨能力提得越高，雖然波長相近的光能夠被區(qū)分地更好，但其代價就是一定長度的detector上所能展現(xiàn)的光譜范圍變小了，所以，當光柵光譜儀發(fā)展到一定階段后，人們發(fā)現(xiàn)重要的問題又出現(xiàn)在了檢測器（detector）這一側(cè)。
檢測器
感光元件是直讀光譜儀的核心，元器件的好壞關(guān)系到精密儀器的精度。直讀光譜儀（OES）的核心元件有三種,一種是廣泛使用的CCD（電荷耦合）元件；另一種是CMOS（互補金屬氧化物半導(dǎo)體）器件,還有一種是PMT光電倍增管。
以上的器件都是光譜儀的核心器件，元件的質(zhì)量對光譜儀的種類來說很重要。

儀器的漂移校正需要進行標準化，控樣主要是消除樣品與標樣之間因組織結(jié)構(gòu)、成分差異等而引起的分析結(jié)果偏差。控樣要求與分析樣品結(jié)構(gòu)類似、成分接近、生產(chǎn)工藝盡可能相同并經(jīng)化學(xué)法或其他可靠的分析方法定值。
控樣校準是一種行之有效的方法，國外一般稱之為類型標準化。要用控樣校準，前提是工作曲線正常。一般應(yīng)在完全標準化后進行?？貥討?yīng)與待分析樣品的冶煉方式、物理結(jié)構(gòu)、化學(xué)成分含量相近，這是應(yīng)用控樣必須遵守的。
可以去購買相接近的標樣做為控樣。但我覺得如果條件允許，還是自己制備，這樣不僅節(jié)省成本，而且與自己的分析條件更符合。
制作控樣還是比較費事的，首先要準備好澆注模具和同種牌號、熔煉良好的液態(tài)合金，盡量在短時間內(nèi)澆注完成。澆注好的樣塊先經(jīng)過肉眼觀察，將外觀不好的丟棄。再用光譜儀進行均勻性和含量檢查（全部）。根據(jù)澆注數(shù)量和時間順序從中挑選，選擇幾塊用金相法檢測均勻性及鑄造質(zhì)量。
從挑選好的的中控樣，挑選幾塊，用化學(xué)法進行化學(xué)成分標定（推薦到有的單位做）。給控樣打好標識，就可以投入使用了。
曲線漂移是用兩點標準化來校正的,控樣是和你們實際生產(chǎn)中產(chǎn)品的工作環(huán)境、條件非常接近的樣品，這樣可以使你分析更加準確，它是自己做的，但是需要化學(xué)分析嚴格準確地定值。

全譜直讀光譜儀的優(yōu)點在于全元素的分析，同時分析樣品中的多種元素，十幾或者幾十個元素的含量。與碳硅儀不同，全譜直讀光譜儀不能分析鐵水，雖然在原理上它能分析所有的元素，但是在實際應(yīng)用中，它僅能分析固體樣品，需要等鐵水固定后才能進行檢測。
當爐前分析廠家不僅僅需要分析碳含量與硫含量，還要檢測一些別的含量時，就輪到全譜直讀光譜儀上場了。比碳硅儀的鐵水分析能得到更多元素，直觀得到更多數(shù)據(jù)。
全譜直讀光譜儀的難點是碳，硅等，因為空氣會干擾并且影響到這些元素，當需要測量時，全譜直讀光譜儀需要進行真空或者沖氬處理，使檢測時沒有空氣干擾，這樣檢測結(jié)果會比較準確。
當今市場中，越來越多的客戶選擇購買全譜直讀光譜儀來進行爐前檢測，一是因為它全元素的覆蓋范圍，二是因為全譜直讀更廣泛的應(yīng)用，三是分析精度很高。因此許多爐前分析的廠家選全譜直讀光譜儀，而沒有購買碳硅儀，但是全譜直讀光譜儀不能直接分析鐵水，在選購時還是應(yīng)該根據(jù)需求考慮清楚。