國產(chǎn)光電直讀光譜儀 CCD直讀光譜儀
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國產(chǎn)光電直讀光譜儀-CCD直讀光譜儀

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像素?cái)?shù) 3648+46
像素尺寸 8μm
光柵焦距 500mm
刻線 2700 條 /mm
線分辨率 0.7407nm/mm
像素分辨率 0.005926nm
譜線范圍 160-500nm
商品介紹
鋼研納克SparkCCD 6000型火花發(fā)射光譜儀采用高分辨率線陣CCD(Charge-coupled Device)作為檢測(cè)器,實(shí)現(xiàn)全譜掃描,可以廣泛適用于多種基體金屬樣品的全元素成分分析。SparkCCD 6000型火花發(fā)射光譜儀優(yōu)點(diǎn)不再受光電倍增管排布的空間限制,可以任意增加分析元素,無需增加硬件,維護(hù)保養(yǎng)方便。光譜儀激發(fā)光源為激發(fā)能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源,適應(yīng)各種不同材料,原位單次放電采集技術(shù)有效提高分析精度,網(wǎng)口采集,通用性更強(qiáng)。
1.采用多個(gè)CCD對(duì)可用范圍內(nèi)的光譜譜線進(jìn)行全譜掃描
2.激發(fā)能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源,適應(yīng)各種不同材料
3.分析應(yīng)用覆蓋面廣泛,與傳統(tǒng)儀器相比,不受通道及基體限制
4.單板式透鏡架,擦拭時(shí)大大降低對(duì)光室的污染
5.基于ARM9的儀器狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)
6.網(wǎng)口采集,通用性更強(qiáng)
7.固態(tài)吸附阱,防止油氣對(duì)光室的污染,提高長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性
8.銅火花臺(tái)底座,提高散熱性及堅(jiān)固性能
想必大家對(duì)鋼研納克SparkCCD 6000型火花發(fā)射光譜儀有了更深刻的了解,想知道更多便攜式X熒光光譜儀,拉曼光譜儀,手持式X熒光光譜儀等不同類型光譜儀的資訊,敬請(qǐng)關(guān)注鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司。
國產(chǎn)光電直讀光譜儀,國產(chǎn)光譜儀排名
Labspark 1000 精密直讀火花光譜儀技術(shù)參數(shù)
廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、金屬加工等領(lǐng)域的生產(chǎn)工藝控制,爐前化驗(yàn),中心實(shí)驗(yàn)室成品 檢 驗(yàn), 可用于 Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn、Ag 等多種金屬及其合金樣品分析,穩(wěn)定性好、檢測(cè)限低、分析速度快、運(yùn)行成本低、方便維護(hù)、抗干擾能力強(qiáng)。
Labspark 1000 技術(shù)優(yōu)勢(shì)
?激發(fā)能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源,適應(yīng)各種不同材料。
?獨(dú)特的恒溫式火花臺(tái)設(shè)計(jì),環(huán)狀氬氣流方式,保證連續(xù)激發(fā)狀態(tài)下儀器的穩(wěn)定性,避免使用水冷帶來的不利影響。
?安全防護(hù)設(shè)備阻止不安全激發(fā)。
?銅基座火花臺(tái),火花臺(tái)易于拆卸,便于清潔。
?帶有獨(dú)特配件,易于檢測(cè)多種形狀的分析對(duì)象(餅狀、棒狀、線狀)。
?一體式透鏡隔離閥,可防止因日常維護(hù)導(dǎo)致的光室污染影響強(qiáng)度下降,透鏡易于更換。
?放電室設(shè)計(jì)獨(dú)特,保證放電在條件下進(jìn)行。
?激發(fā)電極為鎢電極。
?帕邢 - 龍格架發(fā),高發(fā)光全息光柵。
?光柵焦距 750mm,刻線為 2400 條 /mm,
?譜線范圍:120-800nm。
?色散率:一級(jí)色散率:0.55nm/mm, 二級(jí)色散率:0.275nm/mm。
?分辨率:優(yōu)于 0.01nm。
?整體出射狹縫調(diào)試方便、快捷、便于用戶增加更改通道,節(jié)約成本。
?光柵、光電倍增管等核心部件全部進(jìn)口。
?真空度由真空泵和真空控制設(shè)備控制。
?鑄鐵光室,熱膨脹系數(shù)低,保證真空度的要求。
?采用納克公司獨(dú)創(chuàng)的金屬原位分析儀的核心關(guān)鍵技術(shù) -- 單次放電采集解析技術(shù)(Single Discharge Analysis,SDA)。
?世界首創(chuàng)的多通道同步描跡提高儀器穩(wěn)定性。
?延時(shí)積分技術(shù),國內(nèi)空白、,不同的通道采用不同的積分起始時(shí)間。
?內(nèi)部恒溫系統(tǒng),不同的部位采用不同的恒溫條件,大大減少了外部環(huán)境變化對(duì)儀器的影響(控制精度 ±0.1℃)
?連續(xù)可調(diào)光源,對(duì)不同的材質(zhì)可以匹配不同的光源實(shí)現(xiàn)的分析結(jié)果。
?模塊化的電路設(shè)計(jì),維修方便快捷,為遠(yuǎn)程診斷做好了準(zhǔn)備。
?軟件可調(diào)獨(dú)立高精度負(fù)高壓模塊,負(fù)高壓精度< 0.05%。
?負(fù)高壓可由分析程序控制,調(diào)高分析程序的分析精度,擴(kuò)展元素的分析范圍。
?實(shí)時(shí)監(jiān)控各通道負(fù)高壓、 光室溫度、火花臺(tái)溫度、真空度等重要參數(shù),確保儀器長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行。
?各光電倍增管負(fù)高壓獨(dú)立 供電,消除相互干擾,運(yùn)行更可靠。
?根據(jù)分析需要,可程序調(diào)整,拓寬反分析范圍。
?包括不同基體不同曲線的計(jì)算,全中文分析軟件,方便用戶操作,第三元素干擾校正,提高分析準(zhǔn)確度。
Labspark 1000技術(shù)特點(diǎn)
?原位單次放電采集的專利技術(shù)(SDA)有效提高分析精度
?單板式透鏡架,擦拭時(shí)大大降低對(duì)光室的污染
?基于 ARM9 的儀器狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)
?固態(tài)吸附阱,防止油氣對(duì)光室的污染,提高長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性
?綠光背景燈,加快響應(yīng)速度,提高短期分析精度
?·銅火花臺(tái)底座,提高散熱性及堅(jiān)固性。
?·激發(fā)能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源,適應(yīng)各種不同材料。
?可變延時(shí)積分技術(shù),大大降低背景干擾。
?高精度光電倍增管負(fù)高壓獨(dú)立供電連續(xù)可調(diào)技術(shù),調(diào)整更精確,可程序調(diào)整,提高動(dòng)態(tài)范圍。
?網(wǎng)口采集,通用性更強(qiáng)。
?真空光室由特殊材質(zhì)制作:極低的熱膨脹系數(shù),受溫度波動(dòng)影響小。
?全新光室結(jié)構(gòu):可輕松檢測(cè) Li、Na、K 等長(zhǎng)波元素以及極短波長(zhǎng)元素或干擾嚴(yán)重的元素,如 N、P、S、B、Sb 等。
?內(nèi)置疲勞背景燈:有效降低光電倍增管暗電流對(duì)信號(hào)
?收集的影響,提高信噪比,延長(zhǎng)光電倍增管的使用壽命。
?自動(dòng)描跡:全新設(shè)計(jì)的自動(dòng)描跡系統(tǒng),快速精準(zhǔn),大大提高了儀器分析效率并降低了操作難度,提供自動(dòng)與手動(dòng)描跡切換功能。
?全新設(shè)計(jì)的共軸火花臺(tái):采用優(yōu)化的內(nèi)部氣路,大大減少了氬氣的消耗量,減少了火花臺(tái)內(nèi)部的殘留金屬粉塵并且提高了儀器分析數(shù)據(jù)時(shí)的穩(wěn)定性。
國產(chǎn)光電直讀光譜儀,國產(chǎn)光譜儀排名
鋼研納克SparkCCD7000多項(xiàng)技術(shù)創(chuàng)行業(yè)之
檢測(cè)器靈敏度行業(yè)
高分辨率 CCD 檢測(cè)器
像素?cái)?shù):3648+46 全行業(yè)
像素尺寸:8μm 全行業(yè)小
精薄鍍膜,紫外波段檢出限更低,可做低含量 N
萬級(jí)超凈環(huán)境下打造優(yōu)光學(xué)系統(tǒng)
帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng),無像差,分辨率均勻
高發(fā)光全息光柵,光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm,全行業(yè)
線分辨率 0.7407nm/mm
像素分辨率 0.005926nm
譜線范圍:130-800nm(可分析 N、Li、 Na、K 等元素)
智能控制系統(tǒng),再啟動(dòng)耗時(shí)行業(yè)
潮汐式?jīng)_洗方式,冷機(jī)(關(guān)機(jī) 12 小時(shí))啟動(dòng)只需 30min,熱機(jī)啟動(dòng)時(shí)間 5min
智能判斷分析間隔時(shí)間,合理補(bǔ)充氬氣,降低氬氣消耗
60ml/min 超低待機(jī)流量,一瓶氬氣 24 小時(shí)待機(jī) 70 天
分片式曝光,痕量元素識(shí)別強(qiáng)度大幅提高,檢出限更低
一次激發(fā),分片曝光,同時(shí)采集,同時(shí)回?cái)?shù)
獨(dú)立控制不同 CCD 的積分曝光時(shí)間
提升痕量元素的強(qiáng)度,降低儀器的檢出限
隨波段調(diào)節(jié)積分時(shí)間,提升儀器的 穩(wěn)定性
國產(chǎn)光電直讀光譜儀,國產(chǎn)光譜儀排名
SparkCCD7000全譜火花直讀光譜儀采用高分辨率線陣CCD(Charge-coupled Device)作為檢測(cè)器,可實(shí)現(xiàn)全譜掃描,并采用了智能控制光室充氣系統(tǒng),使儀器性能更加穩(wěn)定,服務(wù)期限更長(zhǎng)久。儀器配套了大量的譜線,可分析更多的元素,曲線可實(shí)現(xiàn)分段跳轉(zhuǎn),同一元素不同譜線檢測(cè)實(shí)現(xiàn)了“無縫銜接”,拓展了分析范圍。除此之外,SparkCCD7000采用了第三元素干擾校正,使元素分析更加準(zhǔn)確,可以在用戶現(xiàn)場(chǎng)任意增加材料基體和分析元素,而無需增加硬件。不僅如此,它還具有維護(hù)保養(yǎng)方便,能量、頻率連續(xù)可調(diào)等特點(diǎn),并配備了全數(shù)字固態(tài)光源,可適應(yīng)各種不同材料。其采用網(wǎng)口采集傳輸,速度更快,通用性更強(qiáng)。
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公司名稱 鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
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