鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
店齡5年 · 企業(yè)認(rèn)證 · 北京市
主營(yíng)產(chǎn)品: ICP光譜儀,電感耦合等離子體質(zhì)譜儀,電感耦合等離子體光譜儀,ICPOES
免費(fèi)會(huì)員
手機(jī)掃碼查看 移動(dòng)端的落地頁(yè)
店齡5年 · 企業(yè)認(rèn)證 · 北京市
鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品: ICP光譜儀,電感耦合等離子體質(zhì)譜儀,電感耦合等離子體光譜儀,ICPOES
萦萧营萦萧萫萨萨萭萩萭
電火花直讀光譜儀價(jià)格-光譜儀火花直讀鋼研納克
價(jià)格
訂貨量(臺(tái))
¥246750.00
≥1
店鋪主推品 熱銷潛力款
聯(lián)系人 文先生
萦萧营萦萧萫萨萨萭萩萭
發(fā)貨地 北京市
在線客服
鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
店齡5年 企業(yè)認(rèn)證
聯(lián)系人
文先生
聯(lián)系電話
萦萧营萦萧萫萨萨萭萩萭
經(jīng)營(yíng)模式
生產(chǎn)廠家
所在地區(qū)
北京市
主營(yíng)產(chǎn)品
進(jìn)入店鋪
收藏本店
商品參數(shù)
|
商品介紹
|
聯(lián)系方式
光學(xué)系統(tǒng) 帕邢 - 龍格架發(fā)
光柵焦距 750mm
刻線 2400 條 /mm
譜線范圍 170-500nm
一級(jí)色散率 0.55nm/mm
二級(jí)色散率 0.275nm/mm
分辨率 優(yōu)于 0.01nm
商品介紹
由中國(guó)分析測(cè)試協(xié)會(huì)主辦的北京第分析測(cè)試學(xué)術(shù)報(bào)告會(huì)及展覽會(huì)(BCEIA2019)在國(guó)家會(huì)議中心隆重召開。鋼研納克檢測(cè)技術(shù)有限公司(簡(jiǎn)稱:鋼研納克)分析儀器、檢測(cè)服務(wù)、標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)、能力驗(yàn)證業(yè)務(wù)分三個(gè)展區(qū)亮相本次展會(huì)。
在本次展會(huì)上,鋼研納克攜國(guó)家重大科學(xué)儀器專項(xiàng)產(chǎn)品“電感耦合等離子體光譜儀、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀”以及全新一代SparkCCD7000全譜火花直讀光譜儀參展,受到業(yè)內(nèi)的高度關(guān)注。大會(huì)程津培院士在中國(guó)分析測(cè)試協(xié)會(huì)張渝英的陪同下參觀鋼研納克展臺(tái),并就國(guó)產(chǎn)分析儀器的發(fā)展提出了指導(dǎo)性的建議。
鋼研納克直讀光譜儀,業(yè)界標(biāo)桿產(chǎn)品,中國(guó)直讀光譜儀領(lǐng)跑者!源于中國(guó)冶金行業(yè)的科研機(jī)構(gòu)鋼鐵研究總院,具有70年金屬分析檢測(cè)經(jīng)驗(yàn),金屬檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)制定者。20年直讀光譜儀制造歷史,做更專業(yè)的光譜儀!直讀光譜儀國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4336起草單位,央企品牌,上市公司,品質(zhì)服務(wù)!
直讀光譜儀可廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、鋼鐵和有色金屬等行業(yè),在汽車制造、航空航天、船舶、機(jī)電設(shè)備、工程機(jī)械、電子電工、教育、科研等領(lǐng)域的原料、零件、產(chǎn)品工藝研發(fā)方面都有廣泛的應(yīng)用。可用于 Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、 Sn、Mn 等金屬及其合金的樣品分析。
直讀光譜儀是一種精密的分析儀器,利用不同元素的原子被電極激發(fā)后會(huì)發(fā)出不同的特征光譜這一原理,對(duì)被測(cè)樣品的組成和含量進(jìn)行分析和測(cè)定。直讀光譜儀具有一次分析元素多、分析范圍廣、分析速度快、操作方便、檢測(cè)精度高的特點(diǎn),在冶金鑄造、鋼鐵及有色金屬行業(yè)爐前快速分析中廣泛應(yīng)用,在汽車、航空航天、機(jī)電、機(jī)械、石油化工等各領(lǐng)域的金屬材料對(duì)其元素進(jìn)行精確的定量分析。需要指出的是,光譜定量分析會(huì)受人員、環(huán)境、儀器性能等多種因素的影響,從而使檢測(cè)結(jié)果有失準(zhǔn)確性,分析結(jié)果存在一定偏差。為提高檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性,必須不斷地研究、分析、總結(jié),采取有效的措施來提高直讀光譜儀檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
光電光譜分析選用的分析線,必需符合下列要求。
直讀光譜分析時(shí),一般都采用內(nèi)標(biāo)法。因內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行分析時(shí)常采用多條分析線和一條內(nèi)標(biāo)線組成,常用試料中的基體元素為內(nèi)標(biāo)元素。組成的線對(duì)要求均稱,就是當(dāng)激發(fā)光源有波動(dòng)時(shí),兩條線對(duì)的譜線強(qiáng)度雖有變化,但強(qiáng)度比或相對(duì)強(qiáng)度能保持不變。
如R表示強(qiáng)度比即 R=I1/I0
I1為分析線的強(qiáng)度,Io為內(nèi)標(biāo)線強(qiáng)度,表明I1和Io同時(shí)變,而R則不受影響。R與含量C之間有線性關(guān)系。
在光電直讀光譜分析時(shí),有很多分析通道,要安裝許多內(nèi)標(biāo)通道有困難,因此采用一個(gè)內(nèi)標(biāo)線。但有人認(rèn)為再要提高光電光譜分析的準(zhǔn)確度還得采用不同的內(nèi)標(biāo)線,這還有待于光電轉(zhuǎn)換元件的小型化來解決。
光電法時(shí),有時(shí)還用內(nèi)標(biāo)線來控制曝光量,稱為自動(dòng)曝光,也就是樣品在曝光時(shí),分析線和內(nèi)標(biāo)分別向各自積分電容充電,當(dāng)內(nèi)標(biāo)線的積分電容器充電達(dá)到某一預(yù)定的電壓時(shí),自動(dòng)截止曝光。此時(shí)分析線的積分電容器充電達(dá)到的電壓即代表分析線的強(qiáng)度I,并且亦即代表分析線的強(qiáng)度比R(因?yàn)镽=I1/Io,而此時(shí)Io保持常數(shù))這個(gè)強(qiáng)度I或強(qiáng)度比R就由測(cè)光讀數(shù)所表示。
現(xiàn)在一般采用計(jì)時(shí)曝光法較為普遍。
在本次展會(huì)上,鋼研納克攜國(guó)家重大科學(xué)儀器專項(xiàng)產(chǎn)品“電感耦合等離子體光譜儀、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀”以及全新一代SparkCCD7000全譜火花直讀光譜儀參展,受到業(yè)內(nèi)的高度關(guān)注。大會(huì)程津培院士在中國(guó)分析測(cè)試協(xié)會(huì)張渝英的陪同下參觀鋼研納克展臺(tái),并就國(guó)產(chǎn)分析儀器的發(fā)展提出了指導(dǎo)性的建議。
鋼研納克直讀光譜儀,業(yè)界標(biāo)桿產(chǎn)品,中國(guó)直讀光譜儀領(lǐng)跑者!源于中國(guó)冶金行業(yè)的科研機(jī)構(gòu)鋼鐵研究總院,具有70年金屬分析檢測(cè)經(jīng)驗(yàn),金屬檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)制定者。20年直讀光譜儀制造歷史,做更專業(yè)的光譜儀!直讀光譜儀國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4336起草單位,央企品牌,上市公司,品質(zhì)服務(wù)!
直讀光譜儀可廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、鋼鐵和有色金屬等行業(yè),在汽車制造、航空航天、船舶、機(jī)電設(shè)備、工程機(jī)械、電子電工、教育、科研等領(lǐng)域的原料、零件、產(chǎn)品工藝研發(fā)方面都有廣泛的應(yīng)用。可用于 Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、 Sn、Mn 等金屬及其合金的樣品分析。
直讀光譜儀是一種精密的分析儀器,利用不同元素的原子被電極激發(fā)后會(huì)發(fā)出不同的特征光譜這一原理,對(duì)被測(cè)樣品的組成和含量進(jìn)行分析和測(cè)定。直讀光譜儀具有一次分析元素多、分析范圍廣、分析速度快、操作方便、檢測(cè)精度高的特點(diǎn),在冶金鑄造、鋼鐵及有色金屬行業(yè)爐前快速分析中廣泛應(yīng)用,在汽車、航空航天、機(jī)電、機(jī)械、石油化工等各領(lǐng)域的金屬材料對(duì)其元素進(jìn)行精確的定量分析。需要指出的是,光譜定量分析會(huì)受人員、環(huán)境、儀器性能等多種因素的影響,從而使檢測(cè)結(jié)果有失準(zhǔn)確性,分析結(jié)果存在一定偏差。為提高檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性,必須不斷地研究、分析、總結(jié),采取有效的措施來提高直讀光譜儀檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
光電光譜分析選用的分析線,必需符合下列要求。
直讀光譜分析時(shí),一般都采用內(nèi)標(biāo)法。因內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行分析時(shí)常采用多條分析線和一條內(nèi)標(biāo)線組成,常用試料中的基體元素為內(nèi)標(biāo)元素。組成的線對(duì)要求均稱,就是當(dāng)激發(fā)光源有波動(dòng)時(shí),兩條線對(duì)的譜線強(qiáng)度雖有變化,但強(qiáng)度比或相對(duì)強(qiáng)度能保持不變。
如R表示強(qiáng)度比即 R=I1/I0
I1為分析線的強(qiáng)度,Io為內(nèi)標(biāo)線強(qiáng)度,表明I1和Io同時(shí)變,而R則不受影響。R與含量C之間有線性關(guān)系。
在光電直讀光譜分析時(shí),有很多分析通道,要安裝許多內(nèi)標(biāo)通道有困難,因此采用一個(gè)內(nèi)標(biāo)線。但有人認(rèn)為再要提高光電光譜分析的準(zhǔn)確度還得采用不同的內(nèi)標(biāo)線,這還有待于光電轉(zhuǎn)換元件的小型化來解決。
光電法時(shí),有時(shí)還用內(nèi)標(biāo)線來控制曝光量,稱為自動(dòng)曝光,也就是樣品在曝光時(shí),分析線和內(nèi)標(biāo)分別向各自積分電容充電,當(dāng)內(nèi)標(biāo)線的積分電容器充電達(dá)到某一預(yù)定的電壓時(shí),自動(dòng)截止曝光。此時(shí)分析線的積分電容器充電達(dá)到的電壓即代表分析線的強(qiáng)度I,并且亦即代表分析線的強(qiáng)度比R(因?yàn)镽=I1/Io,而此時(shí)Io保持常數(shù))這個(gè)強(qiáng)度I或強(qiáng)度比R就由測(cè)光讀數(shù)所表示。
現(xiàn)在一般采用計(jì)時(shí)曝光法較為普遍。
聯(lián)系方式
公司名稱 鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
聯(lián)系賣家 文先生 (QQ:415905311)
電話 萨萦萨-萪萬萦萧萬萦萧萧
手機(jī) 萦萧营萦萧萫萨萨萭萩萭
傳真 萨萦萨-萪萬萦萧萬萦营营
網(wǎng)址 http://www.ncs-instrument.com/
地址 北京市