直讀光譜儀器的誤差來源有哪些？
1)系統(tǒng)誤差也叫可測(cè)誤差，一般包括儀器的本身波動(dòng)；樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差（標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測(cè)方法不一致，這樣檢測(cè)結(jié)果會(huì)有方法上的差異；同一種方法的檢測(cè)結(jié)果也存在一定的波動(dòng)）；待測(cè)樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異，可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過程中的誤差，如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。
2)偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差，如試樣不均勻；檢測(cè)時(shí)周圍的溫濕度、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等。
3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，可以避免。如制樣不精確，樣品前處理不符合要求，控樣和待測(cè)試樣存在制樣偏差，選擇了錯(cuò)誤的分析程序等。

隨著金屬材料、機(jī)械制造業(yè)的發(fā)展要求越來越高，企業(yè)對(duì)各類金屬材料的質(zhì)量控制、原材料檢驗(yàn)、出廠材質(zhì)檢驗(yàn)等提出了更高的要求。直讀光譜儀作為金屬材料行業(yè)基礎(chǔ)的檢測(cè)設(shè)備之一，被廣泛應(yīng)用于鋼鐵、冶金、鑄造、機(jī)械加工等行業(yè)的來料檢驗(yàn)、質(zhì)量檢測(cè)、生產(chǎn)過程控制。
作為企業(yè)必備的設(shè)備之一，直讀光譜儀沒有好壞之說，關(guān)鍵是要適合企業(yè)的實(shí)際需求。俗話說，沒有的，只有適合的，那么企業(yè)怎么為自己選擇一款合適的直讀光譜儀呢？
這里，我們先從光譜儀用戶的實(shí)際應(yīng)用角度進(jìn)行分析，所謂應(yīng)用，就是基于自己檢測(cè)的材料材質(zhì)和實(shí)際功用，來做選型分析，下面三個(gè)方面是您考慮的：
1、測(cè)試的材料材質(zhì)（基體）和具體品種（牌號(hào)）
2、直讀光譜儀的品牌、穩(wěn)定性、精度、性價(jià)比
3、就是你選擇的這款直讀光譜儀是否使用了的技術(shù)，是否買了就面臨技術(shù)落后，是淘汰產(chǎn)品

直讀光譜儀保養(yǎng)三要素：
激發(fā)臺(tái)
在激發(fā)系統(tǒng)中其基本維護(hù)的部位為激發(fā)臺(tái)內(nèi)部，激發(fā)臺(tái)內(nèi)部是否清潔、電極極距是否穩(wěn)定，激發(fā)臺(tái)發(fā)光弧焰相對(duì)于光學(xué)系統(tǒng)的高度等，均會(huì)影響我們的數(shù)據(jù)結(jié)果。
1、拔出廢氣管，用吸塵器清理激發(fā)腔中的灰塵；
2、使用脫脂棉沾純酒精擦拭護(hù)套；
3、清理完成，用極距規(guī)重新測(cè)量一次分析間距；
4、再用氬氣沖洗整個(gè)回路2~3分鐘，以沖掉進(jìn)入火花臺(tái)的空氣。
透鏡
聚光透鏡是樣品被激發(fā)而發(fā)出的光進(jìn)入分光儀的通道，必須保持鏡面清潔干凈。但長(zhǎng)期使用聚光鏡會(huì)受到污染，其外表面附著一層茶褐色物質(zhì)，時(shí)間越長(zhǎng)，沉積 越厚。激發(fā)產(chǎn)生的金屬粉末也會(huì)粘附在透鏡的外表面上，降低光的透過率，可使全部元素的光強(qiáng)降低，特別是遠(yuǎn)紫外元素C，P，S更是明顯。
聚光透鏡的表面用脫脂棉，蘸上乙醇的混合液少許，從聚光鏡中心向外逐圈擦拭。如污染嚴(yán)重可用力多擦幾遍，直到擦去污物再用干棉花球擦去水印即可。
特別應(yīng)該注意的，聚光鏡是石英材質(zhì)的，不能用硬的物體(絕不能用金屬鑷夾棉花)，以免劃傷透鏡面。
廢棄桶
氬氣為惰性氣體，對(duì)人體無直接危害。但是火花臺(tái)在激發(fā)樣品后產(chǎn)生的部分灰塵會(huì)由氬氣吹走，尾氣管變黑，時(shí)間長(zhǎng)了需要清理以保證氣路的暢通與清潔。激發(fā)后產(chǎn)生的廢氣，其主要成分是氬氣含有激發(fā)后的金屬粉塵，人長(zhǎng)期直接吸入后，會(huì)造成矽肺、眼部損壞等情況，對(duì)人的身體帶來極大的危害。直讀光譜儀的尾氣管可采用透明塑料管，在安裝時(shí)將它插入水中即可；如果管壁變黑，并且不透明，則需要更換尾氣管。

Spark 8000 全 譜 火 花 直 讀 光 譜 儀 技 術(shù) 參 數(shù)
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀技術(shù)優(yōu)勢(shì)
?高靈敏度 CMOS 檢測(cè)器
?像素?cái)?shù)：4096，全行業(yè)
?像素尺寸： 7μm，全行業(yè)小
?精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量
?線性度好，圖像滯后小
?工作頻率范圍寬，可在 1~10MHz 下工作
?帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng)，無像差，分辨率均勻
?高發(fā)光全息光柵，光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm，全行業(yè)
?線分辨率： 0.7407nm/mm
?像素分辨率 ：0.005926nm
?譜線范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）
?潮汐式?jīng)_洗方式，冷機(jī)（關(guān)機(jī) 12 小時(shí)）啟動(dòng)只需 30min，熱機(jī)啟動(dòng)時(shí)間 5min
?智能判斷分析間隔時(shí)間，合理補(bǔ)充氬氣，降低氬氣消耗 60ml/min 超低待機(jī)流量，一瓶氬氣 24 小時(shí)待機(jī) 70 天
?一次激發(fā)，分片曝光，同時(shí)采集，同時(shí)回?cái)?shù)
?獨(dú)立控制不同 CMOS 的積分曝光時(shí)間
?提升痕量元素的強(qiáng)度，降低儀器的檢出限
?隨波段調(diào)節(jié)積分時(shí)間，提升儀器的穩(wěn)定性
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀儀器特點(diǎn)
?全固態(tài)數(shù)字火花光源（國(guó)家專利技術(shù) 專利號(hào) ZL 201010118150.4）
?能量、頻率連續(xù)可調(diào)
?頻率可達(dá) 1000Hz
?MTBF（平均無故障間相隔時(shí)間）＞ 5000 小時(shí)
?自旋氣路、增壓式自吹掃、激發(fā)充分、千次激發(fā)無需清理
?硅膠加熱膜，加熱均勻、穩(wěn)定
?高精度溫控系統(tǒng)，溫度控制精度±0.1℃
?多重保溫措施，隔絕環(huán)境溫度影響，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定
?網(wǎng)口傳輸方式，數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定、可靠
?多線程數(shù)據(jù)采集，采集速度快、頻率高
?便于維護(hù)
?消除誤操作引起的光學(xué)系統(tǒng)污染
?自動(dòng)扣除元素間加合、倍增干擾，分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
?單次激發(fā)即可校正全譜
?自動(dòng)校準(zhǔn)像素漂移，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性
?元素含量高低曲線分段，自動(dòng)匹配，分析范圍廣
?未知樣品自動(dòng)匹配分析程序
?簡(jiǎn)潔清新、功能強(qiáng)大
?多語言版本（中、英、俄、德）
?智能冶煉配料計(jì)算
?牌號(hào)識(shí)別
?支持碳當(dāng)量等自動(dòng)計(jì)算功能