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鋼研納克檢測技術(shù)股份有限公司
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店齡5年 · 企業(yè)認(rèn)證 · 北京市
主營產(chǎn)品: ICP光譜儀,電感耦合等離子體質(zhì)譜儀,電感耦合等離子體光譜儀,ICPOES
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國產(chǎn)直讀直讀光譜儀-直讀式光譜儀
價格
訂貨量(臺)
¥225000.00
≥1
店鋪主推品 熱銷潛力款
聯(lián)系人 文先生
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商品介紹
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像素數(shù) 3648+46
像素尺寸 8μm
光柵焦距 500mm
刻線 2700 條 /mm
線分辨率 0.7407nm/mm
像素分辨率 0.005926nm
譜線范圍 130-800nm
商品介紹
所有直讀光譜儀都可以達(dá)到ppm級的精度嗎?
直讀的檢測線是小于100ppm,也就是達(dá)到小數(shù)點后三位,0.001,檢測的元素0.01%或以上可以檢測出元素含量,可以檢測精度為萬分之一。并不是所有直讀光譜儀的檢測限都是一樣的,不同廠家不同機型所達(dá)到的精度不同。
光譜分析是根據(jù)物質(zhì)的光譜來鑒別物質(zhì),確定它的化學(xué)組成和相對含量,是一種靈敏快速的分析方法。生產(chǎn)過程的各個環(huán)節(jié)中,為了把控質(zhì)量,保證成品符合出廠和驗收要求,都離不開實時的化學(xué)成分檢測。
直讀光譜儀原理
直讀光譜儀原理是樣品經(jīng)過電弧或火花,每種元素發(fā)射光譜譜線強度正比于樣品中該元素含量,通過檢測發(fā)射光譜強度的能量大小來分析各元素的含量。
原子發(fā)射光譜分析所采用的原理是用電?。ɑ蚧鸹ǎ┑母邷厥箻悠分懈髟貜墓虘B(tài)直接汽化放電激發(fā)成原子蒸汽,當(dāng)物質(zhì)受到外界能量(電能和熱能)的作用時,核外電子就躍遷到高能級,處于高能態(tài)(激發(fā)態(tài))電子是不穩(wěn)定的,激發(fā)態(tài)原子可存在的時間約為10-8秒,它從高能態(tài)躍遷到基態(tài),或較低能態(tài)時,把多余的能量以光的形式釋放出來。激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長,因為每一種元素的基態(tài)是不相同的,激發(fā)態(tài)也是不一樣的,所以發(fā)射的光子是不一致的,也就是波長不相同的。
依據(jù)波長可以決定是哪一種元素,這就是光譜的定性分析。另一方面譜線的強度是由發(fā)射該譜線的光子數(shù)目來決定的,光子數(shù)目多則強度大,反之則弱,而光子的數(shù)目又和處于基態(tài)的。
用光柵分光后,成為按波長排列的“光譜”,這些元素的特征光譜線通過出射狹縫,射入各自的感光器件,光信號變成電信號,經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換,然后由計算機處理,并打印各元素的百分含量。
光電直讀光譜儀雖然本身測量準(zhǔn)確度很高,但測定試樣中元素含量時,所得結(jié)果與真實含量通常不一致,存在一定誤差,并且受諸多因素影響,有的材料本身含量就很低。有下面幾種情況,在檢測時可能產(chǎn)生誤差。
,標(biāo)樣對光譜儀結(jié)果精度的影響,標(biāo)樣和試樣的含量和化學(xué)組成不完全相同時,可能引起基體線和分析線的強度改變。
第二,標(biāo)樣與試樣的物理性能不完全相同時,激發(fā)特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。
第三,澆注的鋼樣經(jīng)過退火,淬火,回火,熱軋,鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時,測出的數(shù)據(jù)會有差別。
第四,熔煉過程中加入脫氧劑,去硫磷劑,混入未知合金元素,引起未知元素譜線的重疊干擾。
第五,樣品的元素分布不均勻,導(dǎo)致分析結(jié)果不同。
以上幾點是直讀光譜儀精度產(chǎn)生誤差的原因,若能避免,光譜儀的使用會更加方便。
爆炸復(fù)合板是一種以碳鋼為基板,單面或多面以其他金屬為復(fù)層的雙金屬高效節(jié)能新型復(fù)合材料,經(jīng)過爆炸焊接的特殊加工工藝復(fù)合而成,既具有貴金屬的耐腐蝕性、耐磨性,又具有碳鋼良好的可焊性、成型性、延伸性和導(dǎo)熱性?;宕聿馁|(zhì):Q235、Q345、50Mn、T8、40Cr、16Mn、GCr15等。爆炸復(fù)合板技術(shù)要求高,難于精確控制,母材性能(韌性、沖擊性能等)、性能(爆速穩(wěn)定、安全等)、初始參數(shù)(單位面積量、基復(fù)板間距等)和動態(tài)參數(shù)(碰撞角、復(fù)板碰撞速度等)的選擇與系統(tǒng)配合對復(fù)合板的成品率及質(zhì)量有著直接的影響。復(fù)合界面由直接結(jié)合區(qū)、熔化區(qū)和漩渦組成。結(jié)合界面存在原子擴散,結(jié)合區(qū)發(fā)生了嚴(yán)重的塑性變形并伴有加工硬度,結(jié)合面為波狀結(jié)構(gòu),對結(jié)合強度和抗拉強度的提高有益。生產(chǎn)的復(fù)合材料已經(jīng)廣泛應(yīng)用于石油、化工、造船、電子、電力、冶金、機械、航空航天、原子能等工業(yè)領(lǐng)域。
復(fù)合材料本身基板和復(fù)合層的厚度不一,薄厚介于鍍層和普通薄板之間??梢赃M(jìn)行光譜分析,但是需控制激發(fā)條件,使激發(fā)完全、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,又要避免穿透。
CMOS直讀光譜儀的精度
就配件來說,CMOS比CCD更加便宜,CCD配件僅掌握在幾家企業(yè)手里,能夠生產(chǎn),所以相對來說,CMOS元器件成本比之要低,但這也是有缺陷的,作為感光元件,不僅僅是直讀光譜儀市場使用它們,還有相機也會使用這些元件。
但目前,相機還是采用CCD傳感器,而CMOS傳感器則成功的占據(jù)了相機低端市場,使得相機價格從幾萬幾十萬降至幾萬甚至幾千。如果CMOS能夠精度更加高,占領(lǐng)未來的市場是必然的。
就目前市場情況,銷售CCD直讀光譜儀的廠家更多,CMOS直讀光譜儀生產(chǎn)的廠家比較少。CMOS直讀光譜儀的精度,因為缺少資料,很多廠家的產(chǎn)品中也沒有明確標(biāo)出,所以無法得出比較中肯的評價。
鋼研納克光譜儀安裝和調(diào)試
當(dāng)光譜儀到達(dá)了安裝地點,包裝被拆除。如果在運輸過程中發(fā)生破損需要記錄和拍照,如果破損的問題影響了儀器調(diào)試,必須立刻通知儀器制造商和運輸保險公司。拆除包裝后,需要根據(jù)制造商提供的供貨清單檢查運輸?shù)漠a(chǎn)品是否齊全,包括儀器,電纜線,標(biāo)樣,備件等。裝箱清單應(yīng)該與訂貨清單核對。
如今,光譜儀的調(diào)試只需要一些簡單的操作和電源線的鏈接,氬氣的安裝。出于這種原因,我寧愿把這個過程稱之為調(diào)試而不是安裝,盡管如此,安裝也包含在里面了,儀器在交付前沒有完全安裝完畢。
打開開關(guān)幾個小時后,就可以操作直讀光譜儀了,如果光譜儀制造商已經(jīng)校正付分析曲線了,可以調(diào)出曲線工作,直接分析。操作員的培訓(xùn)在光譜儀的調(diào)試過程中占了比較長的時間。
直讀的檢測線是小于100ppm,也就是達(dá)到小數(shù)點后三位,0.001,檢測的元素0.01%或以上可以檢測出元素含量,可以檢測精度為萬分之一。并不是所有直讀光譜儀的檢測限都是一樣的,不同廠家不同機型所達(dá)到的精度不同。
光譜分析是根據(jù)物質(zhì)的光譜來鑒別物質(zhì),確定它的化學(xué)組成和相對含量,是一種靈敏快速的分析方法。生產(chǎn)過程的各個環(huán)節(jié)中,為了把控質(zhì)量,保證成品符合出廠和驗收要求,都離不開實時的化學(xué)成分檢測。
直讀光譜儀原理
直讀光譜儀原理是樣品經(jīng)過電弧或火花,每種元素發(fā)射光譜譜線強度正比于樣品中該元素含量,通過檢測發(fā)射光譜強度的能量大小來分析各元素的含量。
原子發(fā)射光譜分析所采用的原理是用電?。ɑ蚧鸹ǎ┑母邷厥箻悠分懈髟貜墓虘B(tài)直接汽化放電激發(fā)成原子蒸汽,當(dāng)物質(zhì)受到外界能量(電能和熱能)的作用時,核外電子就躍遷到高能級,處于高能態(tài)(激發(fā)態(tài))電子是不穩(wěn)定的,激發(fā)態(tài)原子可存在的時間約為10-8秒,它從高能態(tài)躍遷到基態(tài),或較低能態(tài)時,把多余的能量以光的形式釋放出來。激發(fā)而發(fā)射出各元素的特征波長,因為每一種元素的基態(tài)是不相同的,激發(fā)態(tài)也是不一樣的,所以發(fā)射的光子是不一致的,也就是波長不相同的。
依據(jù)波長可以決定是哪一種元素,這就是光譜的定性分析。另一方面譜線的強度是由發(fā)射該譜線的光子數(shù)目來決定的,光子數(shù)目多則強度大,反之則弱,而光子的數(shù)目又和處于基態(tài)的。
用光柵分光后,成為按波長排列的“光譜”,這些元素的特征光譜線通過出射狹縫,射入各自的感光器件,光信號變成電信號,經(jīng)儀器的控制測量系統(tǒng)將電信號積分并進(jìn)行模數(shù)轉(zhuǎn)換,然后由計算機處理,并打印各元素的百分含量。
光電直讀光譜儀雖然本身測量準(zhǔn)確度很高,但測定試樣中元素含量時,所得結(jié)果與真實含量通常不一致,存在一定誤差,并且受諸多因素影響,有的材料本身含量就很低。有下面幾種情況,在檢測時可能產(chǎn)生誤差。
,標(biāo)樣對光譜儀結(jié)果精度的影響,標(biāo)樣和試樣的含量和化學(xué)組成不完全相同時,可能引起基體線和分析線的強度改變。
第二,標(biāo)樣與試樣的物理性能不完全相同時,激發(fā)特征譜線會有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。
第三,澆注的鋼樣經(jīng)過退火,淬火,回火,熱軋,鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時,測出的數(shù)據(jù)會有差別。
第四,熔煉過程中加入脫氧劑,去硫磷劑,混入未知合金元素,引起未知元素譜線的重疊干擾。
第五,樣品的元素分布不均勻,導(dǎo)致分析結(jié)果不同。
以上幾點是直讀光譜儀精度產(chǎn)生誤差的原因,若能避免,光譜儀的使用會更加方便。
爆炸復(fù)合板是一種以碳鋼為基板,單面或多面以其他金屬為復(fù)層的雙金屬高效節(jié)能新型復(fù)合材料,經(jīng)過爆炸焊接的特殊加工工藝復(fù)合而成,既具有貴金屬的耐腐蝕性、耐磨性,又具有碳鋼良好的可焊性、成型性、延伸性和導(dǎo)熱性?;宕聿馁|(zhì):Q235、Q345、50Mn、T8、40Cr、16Mn、GCr15等。爆炸復(fù)合板技術(shù)要求高,難于精確控制,母材性能(韌性、沖擊性能等)、性能(爆速穩(wěn)定、安全等)、初始參數(shù)(單位面積量、基復(fù)板間距等)和動態(tài)參數(shù)(碰撞角、復(fù)板碰撞速度等)的選擇與系統(tǒng)配合對復(fù)合板的成品率及質(zhì)量有著直接的影響。復(fù)合界面由直接結(jié)合區(qū)、熔化區(qū)和漩渦組成。結(jié)合界面存在原子擴散,結(jié)合區(qū)發(fā)生了嚴(yán)重的塑性變形并伴有加工硬度,結(jié)合面為波狀結(jié)構(gòu),對結(jié)合強度和抗拉強度的提高有益。生產(chǎn)的復(fù)合材料已經(jīng)廣泛應(yīng)用于石油、化工、造船、電子、電力、冶金、機械、航空航天、原子能等工業(yè)領(lǐng)域。
復(fù)合材料本身基板和復(fù)合層的厚度不一,薄厚介于鍍層和普通薄板之間??梢赃M(jìn)行光譜分析,但是需控制激發(fā)條件,使激發(fā)完全、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,又要避免穿透。
CMOS直讀光譜儀的精度
就配件來說,CMOS比CCD更加便宜,CCD配件僅掌握在幾家企業(yè)手里,能夠生產(chǎn),所以相對來說,CMOS元器件成本比之要低,但這也是有缺陷的,作為感光元件,不僅僅是直讀光譜儀市場使用它們,還有相機也會使用這些元件。
但目前,相機還是采用CCD傳感器,而CMOS傳感器則成功的占據(jù)了相機低端市場,使得相機價格從幾萬幾十萬降至幾萬甚至幾千。如果CMOS能夠精度更加高,占領(lǐng)未來的市場是必然的。
就目前市場情況,銷售CCD直讀光譜儀的廠家更多,CMOS直讀光譜儀生產(chǎn)的廠家比較少。CMOS直讀光譜儀的精度,因為缺少資料,很多廠家的產(chǎn)品中也沒有明確標(biāo)出,所以無法得出比較中肯的評價。
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當(dāng)光譜儀到達(dá)了安裝地點,包裝被拆除。如果在運輸過程中發(fā)生破損需要記錄和拍照,如果破損的問題影響了儀器調(diào)試,必須立刻通知儀器制造商和運輸保險公司。拆除包裝后,需要根據(jù)制造商提供的供貨清單檢查運輸?shù)漠a(chǎn)品是否齊全,包括儀器,電纜線,標(biāo)樣,備件等。裝箱清單應(yīng)該與訂貨清單核對。
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