鋼研納克（股票：300797）是國(guó)內(nèi)鋼鐵行業(yè)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)，也是國(guó)內(nèi)金屬材料檢測(cè)領(lǐng)域業(yè)務(wù)門類齊全、綜合實(shí)力的測(cè)試研究機(jī)構(gòu)之一。公司擁有“國(guó)家鋼鐵材料測(cè)試中心”、“國(guó)家鋼鐵產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心”、“國(guó)家冶金工業(yè)鋼材無損檢測(cè)中心”三個(gè)檢測(cè)中心和“國(guó)家新材料測(cè)試評(píng)價(jià)平臺(tái)——鋼鐵行業(yè)中心”、“金屬新材料檢測(cè)與表征裝備國(guó)家地方聯(lián)合工程實(shí)驗(yàn)室”、“工業(yè)（特殊鋼）產(chǎn)品質(zhì)量控制和技術(shù)評(píng)價(jià)實(shí)驗(yàn)室”三個(gè)科技創(chuàng)新平臺(tái)。公司在高速鐵路、商用飛機(jī)、航空航天工程、核電工業(yè)以及北京等國(guó)家重大工程、重點(diǎn)項(xiàng)目中承擔(dān)了材料檢測(cè)等攻堅(jiān)任務(wù)。

任何精密儀器想要測(cè)定出準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)，必須在一定的工作條件下運(yùn)行，環(huán)境對(duì)分析儀器的性能、可靠性、測(cè)量結(jié)果和使用壽命都有很大的影響。外部環(huán)境變化嚴(yán)重時(shí)還會(huì)對(duì)儀器造成損壞，縮短儀器的使用壽命。
一般情況下儀器越精密，對(duì)外部的工作條件要求就越高，火花直讀光譜儀作為精密儀器也不例外，應(yīng)置于干燥、通風(fēng)、無振動(dòng)且無酸堿性氣體侵蝕的室內(nèi)，同時(shí)室內(nèi)應(yīng)備有雙層窗簾，以避免受強(qiáng)光直接照射。
火花直讀光譜儀是由光學(xué)、電子、精密機(jī)械和計(jì)算機(jī)等技術(shù)精密結(jié)合而成的光譜儀器，是定量分析測(cè)定元素含量的重要儀器，只有規(guī)范使用、并加強(qiáng)儀器維護(hù)、定期檢查儀器的性能指標(biāo)，才能獲得準(zhǔn)確可靠的分析結(jié)果。

直讀光譜儀器的誤差來源有哪些？
1)系統(tǒng)誤差也叫可測(cè)誤差，一般包括儀器的本身波動(dòng)；樣品的給定值和實(shí)際值存在一定的偏差（標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素定值方法可能和實(shí)際檢測(cè)方法不一致，這樣檢測(cè)結(jié)果會(huì)有方法上的差異；同一種方法的檢測(cè)結(jié)果也存在一定的波動(dòng)）；待測(cè)樣品和系列標(biāo)樣之間存在成分的差異，可能導(dǎo)致在蒸發(fā)、解離過程中的誤差，如背景強(qiáng)度的差別和基體蒸發(fā)的差異等。
2)偶然誤差是一種無規(guī)律性的誤差，如試樣不均勻；檢測(cè)時(shí)周圍的溫濕度、電源電壓等的變化；樣品本身的成分差異等。
3)過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結(jié)果，可以避免。如制樣不精確，樣品前處理不符合要求，控樣和待測(cè)試樣存在制樣偏差，選擇了錯(cuò)誤的分析程序等。

Spark 8000 全 譜 火 花 直 讀 光 譜 儀 技 術(shù) 參 數(shù)
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀技術(shù)優(yōu)勢(shì)
?高靈敏度 CMOS 檢測(cè)器
?像素?cái)?shù)：4096，全行業(yè)
?像素尺寸： 7μm，全行業(yè)小
?精薄鍍膜，紫外波段檢出限更低，可做低含量
?線性度好，圖像滯后小
?工作頻率范圍寬，可在 1~10MHz 下工作
?帕邢 - 龍格結(jié)構(gòu)羅蘭光學(xué)系統(tǒng)，無像差，分辨率均勻
?高發(fā)光全息光柵，光柵焦距 500mm, 刻線為 2700 條 /mm，全行業(yè)
?線分辨率： 0.7407nm/mm
?像素分辨率 ：0.005926nm
?譜線范圍：130-800nm（可分析 N、Li、 Na、K 等元素）
?潮汐式?jīng)_洗方式，冷機(jī)（關(guān)機(jī) 12 小時(shí)）啟動(dòng)只需 30min，熱機(jī)啟動(dòng)時(shí)間 5min
?智能判斷分析間隔時(shí)間，合理補(bǔ)充氬氣，降低氬氣消耗 60ml/min 超低待機(jī)流量，一瓶氬氣 24 小時(shí)待機(jī) 70 天
?一次激發(fā)，分片曝光，同時(shí)采集，同時(shí)回?cái)?shù)
?獨(dú)立控制不同 CMOS 的積分曝光時(shí)間
?提升痕量元素的強(qiáng)度，降低儀器的檢出限
?隨波段調(diào)節(jié)積分時(shí)間，提升儀器的穩(wěn)定性
Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀儀器特點(diǎn)
?全固態(tài)數(shù)字火花光源（國(guó)家專利技術(shù) 專利號(hào) ZL 201010118150.4）
?能量、頻率連續(xù)可調(diào)
?頻率可達(dá) 1000Hz
?MTBF（平均無故障間相隔時(shí)間）＞ 5000 小時(shí)
?自旋氣路、增壓式自吹掃、激發(fā)充分、千次激發(fā)無需清理
?硅膠加熱膜，加熱均勻、穩(wěn)定
?高精度溫控系統(tǒng)，溫度控制精度±0.1℃
?多重保溫措施，隔絕環(huán)境溫度影響，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定
?網(wǎng)口傳輸方式，數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定、可靠
?多線程數(shù)據(jù)采集，采集速度快、頻率高
?便于維護(hù)
?消除誤操作引起的光學(xué)系統(tǒng)污染
?自動(dòng)扣除元素間加合、倍增干擾，分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
?單次激發(fā)即可校正全譜
?自動(dòng)校準(zhǔn)像素漂移，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性
?元素含量高低曲線分段，自動(dòng)匹配，分析范圍廣
?未知樣品自動(dòng)匹配分析程序
?簡(jiǎn)潔清新、功能強(qiáng)大
?多語(yǔ)言版本（中、英、俄、德）
?智能冶煉配料計(jì)算
?牌號(hào)識(shí)別
?支持碳當(dāng)量等自動(dòng)計(jì)算功能