PlasmMS 300儀器使用環(huán)境和工作條件
1) 環(huán)境溫度：15℃～26℃，室內(nèi)氣溫變化每小時(shí)不超過3攝氏度，推薦室溫22℃；
2) 相對濕度：20～60%，無冷凝。濕度大的地區(qū)請配備除濕機(jī)；
3) Ar純度>99.996%，配備輸出量程為1-1.6Mpa或0-2.5Mpa的氧氣壓力表或氮?dú)鈮毫Ρ?，引入儀器的Ar壓力0.55Mpa~0.65Mpa，氬氣輸出端配6mm管適配器。儀器正常點(diǎn)火工作時(shí)用氣量15L/min；如果選配了He碰撞氣，請準(zhǔn)備He減壓閥及氣瓶一個(gè)，減壓閥量程0-0.25Mpa或者0-0.4Mpa，減壓閥后端接4mm管適配器，He氣濃度>99.999%。
4) 供電電源：總供電三相五線(3相線，零線，地線)，額定電流40A以上；主機(jī)供電需要220V單相三線(火、零、地)供電，需要不帶漏電保護(hù)的兩線或3線的32A額定電流空氣開關(guān)一個(gè)。
5) 要求通風(fēng)速度~250m3/h，在儀器抽風(fēng)口處的氣流速度~8.8m/s (請注意，這不是風(fēng)機(jī)的抽速要求)，建議在抽風(fēng)口加節(jié)流閥，以便調(diào)整風(fēng)速。
6) 儀器應(yīng)當(dāng)置于無煙，無腐蝕性的環(huán)境下，無振動(dòng)，不受陽光直射，遠(yuǎn)離易燃易爆危險(xiǎn)品；
7) 接地良好（接地電阻≤4Ω）。

PlasmaMS 300 內(nèi)標(biāo)元素的選擇
內(nèi)標(biāo)元素的使用可以用來校正多樣品測定的過程中，信號(hào)隨著時(shí)間發(fā)生的漂移。實(shí)驗(yàn)室環(huán) 境的變化或者樣品基體的變化（例如粘度等）都會(huì)造成信號(hào)的漂移。
對于任何的多元素分析，我們都推薦用戶至少使用一個(gè)內(nèi)標(biāo)元素。如果待測元素的質(zhì)量分 布從低到高都有，應(yīng)當(dāng)至少使用3個(gè)內(nèi)標(biāo)元素，分別檢測低質(zhì)量、中質(zhì)量、高質(zhì)量區(qū)段的 同位素信號(hào)漂移。
選擇什么同位素作為內(nèi)標(biāo)元素需要根據(jù)您的方法中的待測目標(biāo)同位素來決定。當(dāng)需要為您 方法中的各個(gè)目標(biāo)同位素分配內(nèi)標(biāo)同位素的時(shí)候，可以考慮一下幾個(gè)因素：
1.首先考慮的，也是重要的一個(gè)因素就是：用作內(nèi)標(biāo)的元素必須是您的樣品中不包含的 元素。這些內(nèi)標(biāo)元素應(yīng)當(dāng)精準(zhǔn)地添加到每一個(gè)單溶液里。一般我們可以單獨(dú)配置內(nèi)標(biāo)元素 溶液，然后在分析的時(shí)候進(jìn)行在線添加，可以保證添加的精準(zhǔn)性。內(nèi)標(biāo)元素的信號(hào)強(qiáng)度會(huì) 做為參比，由軟件來對每個(gè)單溶液進(jìn)樣時(shí)發(fā)生的信號(hào)抑制或增強(qiáng)進(jìn)行計(jì)算和校正。如果您 的樣品中含有內(nèi)標(biāo)元素，則內(nèi)標(biāo)信號(hào)會(huì)發(fā)生額外的不規(guī)則的信號(hào)增強(qiáng)，造成軟件校正后的 目標(biāo)元素濃度比實(shí)際濃度偏低。
2.其次，內(nèi)標(biāo)元素的質(zhì)量數(shù)能和目標(biāo)元素比較接近，建議內(nèi)標(biāo)同位素和目標(biāo)元素同位 素之間的質(zhì)量差不要超過50amu。
3.為了確保內(nèi)標(biāo)元素和目標(biāo)元素在相同條件下的行為表現(xiàn)基本一致，內(nèi)標(biāo)元素和目標(biāo)元素 的電離電位比較接近。
當(dāng)使用內(nèi)標(biāo)元素校正的時(shí)候，有兩種校正方式是可以供選擇的：
1. 參考法(Reference)
2. 插值法(Interpolation)
參考法：任何分析元素同位素峰均能以任一內(nèi)標(biāo)元素同位素峰作為參照。目標(biāo)元素峰不需 要為內(nèi)標(biāo)元素附近的峰。當(dāng)使用參考法的時(shí)候，以校正空白(calibration blank)的內(nèi)標(biāo)響應(yīng) 值作為100%，通過計(jì)算樣品中內(nèi)標(biāo)元素的回收率，來校正進(jìn)樣過程中的信號(hào)漂移。
樣品中的內(nèi)標(biāo)元素回收率（相對于calibration blank中的100%而產(chǎn)生的偏離）會(huì)被用作校 正因子來校正目標(biāo)同位素的數(shù)據(jù)（每種目標(biāo)同位素所使用的內(nèi)標(biāo)同位素都應(yīng)是其在方法中 選擇的用來參考的那一個(gè)內(nèi)標(biāo)同位素）
插補(bǔ)法：內(nèi)標(biāo)對測試峰的影響與兩者質(zhì)量數(shù)的接近程度有關(guān)。一個(gè)分析元素若置于兩內(nèi)標(biāo) 物中間，可依據(jù)每個(gè) amu 基數(shù)進(jìn)行計(jì)算因素的校正。
首先：
IS 1 in Blank set to 100% IS 2 in Blank set to 100%
IS 2 的質(zhì)量數(shù)大于 IS 1。
如果
IS 1 in Sample reads 80%
IS 2 in Sample reads 80%
我們可以認(rèn)為 IS 1 &2 之間的所有元素都受到了 20%的抑制. Factor =1/80% = 1.25.
又如：
IS 1 in Sample reads 80%
IS 2 in Sample reads 60%
我們可以認(rèn)為 IS 1 &2 之間的所有元素都受到了與質(zhì)量變化相關(guān)的抑制（質(zhì)量數(shù)越大，受
到抑制越強(qiáng)），距離 IS1 與 IS2 的距離相等的質(zhì)量數(shù)的元素， Factor =1/70% = 1.43.
上圖顯示的就是使用iCAP Q測量時(shí)，設(shè)置了一系列覆蓋質(zhì)量數(shù)區(qū)間的內(nèi)標(biāo)元素，計(jì)算樣 品中的內(nèi)標(biāo)元素回收率：
6Li 45Sc 115In 209Bi
因?yàn)樗械哪繕?biāo)元素濃度都需要使用內(nèi)標(biāo)回收率來進(jìn)行校正,建議用戶將內(nèi)標(biāo)元素的濃度 控制在一個(gè)合理范圍，來降低內(nèi)標(biāo)的%RSD，一般說來我們建議內(nèi)標(biāo)元素的
icps >100,000。

PlasmaMS 300型質(zhì)譜儀將ICP的高溫電離特性與四極桿質(zhì)譜計(jì)的靈敏快速掃描的優(yōu)點(diǎn)相結(jié)合而形成一種新型的有力的元素分析、同位素分析和形態(tài)分析技術(shù)。該技術(shù)具有檢出限低、動(dòng)態(tài)線性范圍寬、干擾少、分析精度高、速度快、可進(jìn)行多元素同時(shí)測定等優(yōu)異的分析性能，已從初在地質(zhì)科學(xué)研究的應(yīng)用迅速發(fā)展到環(huán)境保護(hù)、半導(dǎo)體、生物、醫(yī)學(xué)、冶金、石油、核材料分析等領(lǐng)域。

ICP-MS的標(biāo)準(zhǔn)加入法
基體抑制是由基體帶來的物理干擾或化學(xué)干擾導(dǎo)致的。 使用標(biāo)準(zhǔn)加入法時(shí)： 1.首先將少量已知量的分析物添加到預(yù)制的分析樣品中；
2.然后對這些包含了標(biāo)準(zhǔn)加入物的樣品進(jìn)行再測定，并繪制出濃度曲線；
3.該曲線在濃度軸(X 軸)上的截距即為樣品中分析物的濃度，
4.該曲線的實(shí)驗(yàn)空白(即未加標(biāo)樣品)CPS（即 Y 軸上的截距），即為樣品中分析物的 CPS；
5.標(biāo)準(zhǔn)加入法得到的圖形斜率即為該基體中樣品的分析靈敏度。
6.標(biāo)準(zhǔn)加入法避免了配置標(biāo)準(zhǔn)曲線，相當(dāng)于進(jìn)行了完全的基體匹配。
7.后續(xù)樣品如果基體和該加標(biāo)樣完全一致，則相當(dāng)于該方法也為后續(xù)未知樣品提供了基體 匹配，該加標(biāo)曲線可以直接用于后續(xù)樣品的全定量測定。
基體效應(yīng)以外的干擾并不能通過標(biāo)準(zhǔn)加入法消除，但是可以通過空白扣減來消除，前提是 用來扣減的空白溶液中和樣品中含有的干擾水平是一致的。