鋼研納克長期致力于全面、持續(xù)提升產(chǎn)品和服務(wù)品質(zhì)，為客戶實現(xiàn)全方位價值的化。

硬件設(shè)備目前國際采用的主流技術(shù)為全固態(tài)光源和中階梯光柵二維分光系統(tǒng)，少部分采用電子管作為功放的射頻光源和一維分光技術(shù)。單道掃描的ICP儀器還有一定的市場占有率和保有量，在特殊行業(yè)（如稀土）具有不可替代的作用。

起草的標(biāo)準(zhǔn)情況：
釓鎂合金中稀土與非稀土雜質(zhì)AlCuCaFeSiNi的測定。 2009年
釓鐵合金中非稀土元素AlCaMgMn的測定。 2010年
鐠釹鏑合金中稀土與非稀土雜質(zhì)以及配分測定。（起草）
釹鐵硼廢渣中稀土與非稀土雜質(zhì)測定以及配分測定。（進行到二驗，標(biāo)準(zhǔn)未公布）。

試樣中的總固體溶解量不同：
在常規(guī)工作中，ICP-OES可分析10%TDS的溶液，甚至可以高至30%的鹽溶液。
在短時期內(nèi)ICP-MS可分析0.5%的溶液，但大部分分析人員樂于采用多0.2%TDS的溶液。當(dāng)原始樣品是固體時，與ICP-OES相比，ICP-MS需要更高倍數(shù)的稀釋，其折算到原始固體樣品中的檢出限顯示不出很大優(yōu)勢的現(xiàn)象也就不令人驚奇了。