鋼研納克檢測(cè)技術(shù)股份有限公司
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店齡5年 · 企業(yè)認(rèn)證 · 北京市
主營(yíng)產(chǎn)品: ICP光譜儀,電感耦合等離子體質(zhì)譜儀,電感耦合等離子體光譜儀,ICPOES
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火花光譜儀報(bào)價(jià)-光譜儀怎么用
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¥250000.00
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商品參數(shù)
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商品介紹
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像素?cái)?shù) 3648+46
像素尺寸 8μm
光柵焦距 500mm
刻線 2700 條 /mm
線分辨率 0.7407nm/mm
像素分辨率 0.005926nm
譜線范圍 130-800nm
商品介紹
儀器的漂移校正需要進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化,控樣主要是消除樣品與標(biāo)樣之間因組織結(jié)構(gòu)、成分差異等而引起的分析結(jié)果偏差??貥右笈c分析樣品結(jié)構(gòu)類似、成分接近、生產(chǎn)工藝盡可能相同并經(jīng)化學(xué)法或其他可靠的分析方法定值。
控樣校準(zhǔn)是一種行之有效的方法,國(guó)外一般稱之為類型標(biāo)準(zhǔn)化。要用控樣校準(zhǔn),前提是工作曲線正常。一般應(yīng)在完全標(biāo)準(zhǔn)化后進(jìn)行??貥討?yīng)與待分析樣品的冶煉方式、物理結(jié)構(gòu)、化學(xué)成分含量相近,這是應(yīng)用控樣必須遵守的。
可以去購(gòu)買相接近的標(biāo)樣做為控樣。但我覺得如果條件允許,還是自己制備,這樣不僅節(jié)省成本,而且與自己的分析條件更符合。
制作控樣還是比較費(fèi)事的,首先要準(zhǔn)備好澆注模具和同種牌號(hào)、熔煉良好的液態(tài)合金,盡量在短時(shí)間內(nèi)澆注完成。澆注好的樣塊先經(jīng)過(guò)肉眼觀察,將外觀不好的丟棄。再用光譜儀進(jìn)行均勻性和含量檢查(全部)。根據(jù)澆注數(shù)量和時(shí)間順序從中挑選,選擇幾塊用金相法檢測(cè)均勻性及鑄造質(zhì)量。
從挑選好的的中控樣,挑選幾塊,用化學(xué)法進(jìn)行化學(xué)成分標(biāo)定(推薦到有的單位做)。給控樣打好標(biāo)識(shí),就可以投入使用了。
曲線漂移是用兩點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)化來(lái)校正的,控樣是和你們實(shí)際生產(chǎn)中產(chǎn)品的工作環(huán)境、條件非常接近的樣品,這樣可以使你分析更加準(zhǔn)確,它是自己做的,但是需要化學(xué)分析嚴(yán)格準(zhǔn)確地定值。
帕型-龍格結(jié)構(gòu)一種光柵分光系統(tǒng),包括刻有若干條閃耀角為θ的刻痕透射式閃耀光柵和微透鏡,其特征在于:所述微透鏡為微透鏡陣列。利用這種分光系統(tǒng)能夠得到特定波長(zhǎng)的光強(qiáng)分布圖像,且單色光的能量集中,譜線寬度窄。
微透鏡陣列是由許多形狀相同的微米尺寸小透鏡按一定規(guī)律排列而成的陣列,多數(shù)是按正方形排列。透鏡陣列標(biāo)準(zhǔn)品包含正方形微透鏡和六邊形微透鏡,子單元尺寸32μm-1500μm,焦距在0.8mm-50mm之間,微透鏡陣列一般應(yīng)用在高靈敏度成像、激光勻化、分束、波前傳感、光束聚焦和準(zhǔn)直等領(lǐng)域。
這種分光系統(tǒng)還可以由多種不同傾角的刻痕的透射式閃耀光柵和微透鏡陣列所組成,這樣可得到多幅特定波長(zhǎng)的光強(qiáng)分布圖像。
對(duì)于直讀光譜儀器而言,分光系統(tǒng)的優(yōu)越?jīng)Q定的元素準(zhǔn)確性,能把相近的波長(zhǎng)的光分出,就能相對(duì)減少干擾。這個(gè)結(jié)構(gòu)是目前的直讀光譜儀器的常用結(jié)構(gòu)。
直讀光譜儀接地要求:1、接地電阻的要求,⑴電阻要小于2Ω,接地電阻的大小可以定義接地電流的大小,接地電阻值越小,接地裝置的接地電壓值也就越小。這就是說(shuō)接地電阻值的大小,標(biāo)志著設(shè)備接地性能的好與壞。⑵電阻的測(cè)量,接地電阻一般可用電流表—電壓表、電橋法、接地電阻測(cè)量?jī)x等來(lái)測(cè)量,目前都采用接地電阻測(cè)量?jī)x來(lái)進(jìn)行測(cè)量,此方法即簡(jiǎn)單又方便。常用的接地電阻測(cè)量?jī)x有ZC-8型和ZC-29型兩種。在接地電阻測(cè)試前要先擰開接地線的引下線。
全譜直讀光譜儀的優(yōu)點(diǎn)在于全元素的分析,同時(shí)分析樣品中的多種元素,十幾或者幾十個(gè)元素的含量。與碳硅儀不同,全譜直讀光譜儀不能分析鐵水,雖然在原理上它能分析所有的元素,但是在實(shí)際應(yīng)用中,它僅能分析固體樣品,需要等鐵水固定后才能進(jìn)行檢測(cè)。
當(dāng)爐前分析廠家不僅僅需要分析碳含量與硫含量,還要檢測(cè)一些別的含量時(shí),就輪到全譜直讀光譜儀上場(chǎng)了。比碳硅儀的鐵水分析能得到更多元素,直觀得到更多數(shù)據(jù)。
全譜直讀光譜儀的難點(diǎn)是碳,硅等,因?yàn)榭諝鈺?huì)干擾并且影響到這些元素,當(dāng)需要測(cè)量時(shí),全譜直讀光譜儀需要進(jìn)行真空或者沖氬處理,使檢測(cè)時(shí)沒有空氣干擾,這樣檢測(cè)結(jié)果會(huì)比較準(zhǔn)確。
當(dāng)今市場(chǎng)中,越來(lái)越多的客戶選擇購(gòu)買全譜直讀光譜儀來(lái)進(jìn)行爐前檢測(cè),一是因?yàn)樗氐母采w范圍,二是因?yàn)槿V直讀更廣泛的應(yīng)用,三是分析精度很高。因此許多爐前分析的廠家選全譜直讀光譜儀,而沒有購(gòu)買碳硅儀,但是全譜直讀光譜儀不能直接分析鐵水,在選購(gòu)時(shí)還是應(yīng)該根據(jù)需求考慮清楚。
控樣校準(zhǔn)是一種行之有效的方法,國(guó)外一般稱之為類型標(biāo)準(zhǔn)化。要用控樣校準(zhǔn),前提是工作曲線正常。一般應(yīng)在完全標(biāo)準(zhǔn)化后進(jìn)行??貥討?yīng)與待分析樣品的冶煉方式、物理結(jié)構(gòu)、化學(xué)成分含量相近,這是應(yīng)用控樣必須遵守的。
可以去購(gòu)買相接近的標(biāo)樣做為控樣。但我覺得如果條件允許,還是自己制備,這樣不僅節(jié)省成本,而且與自己的分析條件更符合。
制作控樣還是比較費(fèi)事的,首先要準(zhǔn)備好澆注模具和同種牌號(hào)、熔煉良好的液態(tài)合金,盡量在短時(shí)間內(nèi)澆注完成。澆注好的樣塊先經(jīng)過(guò)肉眼觀察,將外觀不好的丟棄。再用光譜儀進(jìn)行均勻性和含量檢查(全部)。根據(jù)澆注數(shù)量和時(shí)間順序從中挑選,選擇幾塊用金相法檢測(cè)均勻性及鑄造質(zhì)量。
從挑選好的的中控樣,挑選幾塊,用化學(xué)法進(jìn)行化學(xué)成分標(biāo)定(推薦到有的單位做)。給控樣打好標(biāo)識(shí),就可以投入使用了。
曲線漂移是用兩點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)化來(lái)校正的,控樣是和你們實(shí)際生產(chǎn)中產(chǎn)品的工作環(huán)境、條件非常接近的樣品,這樣可以使你分析更加準(zhǔn)確,它是自己做的,但是需要化學(xué)分析嚴(yán)格準(zhǔn)確地定值。
帕型-龍格結(jié)構(gòu)一種光柵分光系統(tǒng),包括刻有若干條閃耀角為θ的刻痕透射式閃耀光柵和微透鏡,其特征在于:所述微透鏡為微透鏡陣列。利用這種分光系統(tǒng)能夠得到特定波長(zhǎng)的光強(qiáng)分布圖像,且單色光的能量集中,譜線寬度窄。
微透鏡陣列是由許多形狀相同的微米尺寸小透鏡按一定規(guī)律排列而成的陣列,多數(shù)是按正方形排列。透鏡陣列標(biāo)準(zhǔn)品包含正方形微透鏡和六邊形微透鏡,子單元尺寸32μm-1500μm,焦距在0.8mm-50mm之間,微透鏡陣列一般應(yīng)用在高靈敏度成像、激光勻化、分束、波前傳感、光束聚焦和準(zhǔn)直等領(lǐng)域。
這種分光系統(tǒng)還可以由多種不同傾角的刻痕的透射式閃耀光柵和微透鏡陣列所組成,這樣可得到多幅特定波長(zhǎng)的光強(qiáng)分布圖像。
對(duì)于直讀光譜儀器而言,分光系統(tǒng)的優(yōu)越?jīng)Q定的元素準(zhǔn)確性,能把相近的波長(zhǎng)的光分出,就能相對(duì)減少干擾。這個(gè)結(jié)構(gòu)是目前的直讀光譜儀器的常用結(jié)構(gòu)。
直讀光譜儀接地要求:1、接地電阻的要求,⑴電阻要小于2Ω,接地電阻的大小可以定義接地電流的大小,接地電阻值越小,接地裝置的接地電壓值也就越小。這就是說(shuō)接地電阻值的大小,標(biāo)志著設(shè)備接地性能的好與壞。⑵電阻的測(cè)量,接地電阻一般可用電流表—電壓表、電橋法、接地電阻測(cè)量?jī)x等來(lái)測(cè)量,目前都采用接地電阻測(cè)量?jī)x來(lái)進(jìn)行測(cè)量,此方法即簡(jiǎn)單又方便。常用的接地電阻測(cè)量?jī)x有ZC-8型和ZC-29型兩種。在接地電阻測(cè)試前要先擰開接地線的引下線。
全譜直讀光譜儀的優(yōu)點(diǎn)在于全元素的分析,同時(shí)分析樣品中的多種元素,十幾或者幾十個(gè)元素的含量。與碳硅儀不同,全譜直讀光譜儀不能分析鐵水,雖然在原理上它能分析所有的元素,但是在實(shí)際應(yīng)用中,它僅能分析固體樣品,需要等鐵水固定后才能進(jìn)行檢測(cè)。
當(dāng)爐前分析廠家不僅僅需要分析碳含量與硫含量,還要檢測(cè)一些別的含量時(shí),就輪到全譜直讀光譜儀上場(chǎng)了。比碳硅儀的鐵水分析能得到更多元素,直觀得到更多數(shù)據(jù)。
全譜直讀光譜儀的難點(diǎn)是碳,硅等,因?yàn)榭諝鈺?huì)干擾并且影響到這些元素,當(dāng)需要測(cè)量時(shí),全譜直讀光譜儀需要進(jìn)行真空或者沖氬處理,使檢測(cè)時(shí)沒有空氣干擾,這樣檢測(cè)結(jié)果會(huì)比較準(zhǔn)確。
當(dāng)今市場(chǎng)中,越來(lái)越多的客戶選擇購(gòu)買全譜直讀光譜儀來(lái)進(jìn)行爐前檢測(cè),一是因?yàn)樗氐母采w范圍,二是因?yàn)槿V直讀更廣泛的應(yīng)用,三是分析精度很高。因此許多爐前分析的廠家選全譜直讀光譜儀,而沒有購(gòu)買碳硅儀,但是全譜直讀光譜儀不能直接分析鐵水,在選購(gòu)時(shí)還是應(yīng)該根據(jù)需求考慮清楚。
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