菲希爾熒光鍍層測厚儀介紹:

在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且準確地測定鍍層厚度時，XUL?系列測量儀器是您的*選解決方素。X射線熒光儀諸可自 下而上進行測量，能夠在測量臺上對樣品進行輕松定位。該系列的所有X射線儀器均配備相同的探測器。您可以根據(jù)自己的測量 需求選擇不同的準直器、濾波器以及X射線管。

特性：

1. 憑借竟大的測量室和自下而上的測量方向，即使大型樣品（如：印制電路板或柔性電路板）也可簡便、快速地定位
2. 硬件選項豐富多樣，可滿足各種測量需求
3. 可選配微聚焦X射線管，從而可測量直徑僅為100卩m的微型結(jié)構(gòu)和測量表面

特征：

1. 帶玻璃窗口和鋁靶的X射線管或帶鍍窗口和鋁靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
2. X射線探測器采用比例接收器
3. 準直器:固定或4個自動切換，0.05 x0.05mm到直徑00.3mm
4. 基本濾片固定或3個自動切換
5. 測量距離可在0-27.5mm范圍內(nèi)調(diào)整
6. 固定的樣品支撐臺或手動XY工作臺
7. 攝像頭用來查著基本射線軸向方向的測量位置?？潭染€經(jīng)過校準，顯示實際測量點大小。