M5000 PLUS高性能全譜型火花直讀光譜儀，是聚光科技基于十幾年的火花直讀光譜技術，全新推出的基于CMOS（互補金屬氧化物半導體）傳感器的光譜新產(chǎn)品，專為金屬材料分析行業(yè)打造的高端火花直讀光譜儀。主要為滿足金屬冶煉、鑄造加工及金屬科學研究等過程中金屬材料化學成分的分析檢測，實現(xiàn)精準質(zhì)量控制。

性能優(yōu)勢

科研級CMOS檢測器，全元素分析，開創(chuàng)PPM級元素分析新紀元

噪聲低 科研級感光元件噪聲小，抗干擾強，具備防光暈技術

抗干擾 CMOS探測器集成度高，可避免外部電路引入噪聲

讀取速度快 采用OEO（Optimal Element-Oriented）技術，像素信號單獨讀取，實現(xiàn)參數(shù)優(yōu)化設計

紫外響應高 超高紫外響應靈敏度，無需鍍膜，實現(xiàn)非金屬元素（N,C,S,P）分析，效果更優(yōu)

經(jīng)典雙光室設計，光譜范圍寬，元素分辨率有保證

獨立設計的紫外光學系統(tǒng)，激發(fā)臺直接采光，專為N，C，S，P等紫外元素測量設計，刻線數(shù)多，分辨率高，兼顧高分辨和譜線范圍優(yōu)勢，譜線范圍寬，分析元素多，性能好

單獨設計的紫外光學系統(tǒng)，體積小，結構簡單，無死角，采用獨創(chuàng)多孔吹掃技術，可將空氣迅速吹掃干凈，確保元素分析效果