M5000 PLUS高性能全譜型火花直讀光譜儀，是聚光科技基于十幾年的火花直讀光譜技術(shù)，全新推出的基于CMOS（互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體）傳感器的光譜新產(chǎn)品，專為金屬材料分析行業(yè)打造的高端火花直讀光譜儀。主要為滿足金屬冶煉、鑄造加工及金屬科學(xué)研究等過程中金屬材料化學(xué)成分的分析檢測，實現(xiàn)精準(zhǔn)質(zhì)量控制。

性能優(yōu)勢

科研級CMOS檢測器，全元素分析，開創(chuàng)PPM級元素分析新紀(jì)元

噪聲低 科研級感光元件噪聲小，抗干擾強(qiáng)，具備防光暈技術(shù)

抗干擾 CMOS探測器集成度高，可避免外部電路引入噪聲

讀取速度快 采用OEO（Optimal Element-Oriented）技術(shù)，像素信號單獨(dú)讀取，實現(xiàn)參數(shù)優(yōu)化設(shè)計

紫外響應(yīng)高 超高紫外響應(yīng)靈敏度，無需鍍膜，實現(xiàn)非金屬元素（N,C,S,P）分析，效果更優(yōu)

經(jīng)典雙光室設(shè)計，光譜范圍寬，元素分辨率有保證

獨(dú)立設(shè)計的紫外光學(xué)系統(tǒng)，激發(fā)臺直接采光，專為N，C，S，P等紫外元素測量設(shè)計，刻線數(shù)多，分辨率高，兼顧高分辨和譜線范圍優(yōu)勢，譜線范圍寬，分析元素多，性能好

單獨(dú)設(shè)計的紫外光學(xué)系統(tǒng)，體積小，結(jié)構(gòu)簡單，無死角，采用獨(dú)創(chuàng)多孔吹掃技術(shù)，可將空氣迅速吹掃干凈，確保元素分析效果